主题:【求助】用XPS或者EDS能测光纤中元素的相对含量吗

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王子师叔祖
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光纤中的元素含量较低在百分之零点几的量纲 用这两种方式能够测得吗
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目前大面积晶体能谱探头测试这种样品没有问题。


对此类问题我不是很清楚 问个比较白痴的问题 那现在比较常用的能够测此类样品的产品型号有哪些啊 还是一般的EDS和XPS产品换个探头就可以测?
王子师叔祖
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原文由 gegeyc88(v2675311) 发表:
这个电镜应该可以做到的


SEM或者TEM都可以吗 这也有型号方面的要求把
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这个电镜应该可以做到的


SEM或者TEM都可以吗 这也有型号方面的要求把
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目前大面积晶体能谱探头测试这种样品没有问题。


对此类问题我不是很清楚 问个比较白痴的问题 那现在比较常用的能够测此类样品的产品型号有哪些啊 还是一般的EDS和XPS产品换个探头就可以测?


EDS是可以换探头,需重新购买,和能谱厂家联系。
lizhenhua98
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光纤中的元素含量较低在百分之零点几的量纲 用这两种方式能够测得吗

玻璃里面有Na、O等轻元素,含量又低,能谱测这个不靠谱。
fengyonghe
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光纤中的元素含量较低在百分之零点几的量纲 用这两种方式能够测得吗

玻璃里面有Na、O等轻元素,含量又低,能谱测这个不靠谱。


这正是大面积能谱探头的优势所在。
王子师叔祖
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目前大面积晶体能谱探头测试这种样品没有问题。


对此类问题我不是很清楚 问个比较白痴的问题 那现在比较常用的能够测此类样品的产品型号有哪些啊 还是一般的EDS和XPS产品换个探头就可以测?


EDS是可以换探头,需重新购买,和能谱厂家联系。


明白了 谢谢啊
as_happy
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目前大面积晶体能谱探头测试这种样品没有问题。


对此类问题我不是很清楚 问个比较白痴的问题 那现在比较常用的能够测此类样品的产品型号有哪些啊 还是一般的EDS和XPS产品换个探头就可以测?


EDS是可以换探头,需重新购买,和能谱厂家联系。


请问北京哪儿又可以测面扫的SEM。谢谢~
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