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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】测量镀层厚度--设备

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2014/1/3 15:59:09 21楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
两层都是Ni元素，台式荧光测厚仪是没办法区分出来两层的，测出来的是两层Ni的总厚度。
X射线荧光的原理是：原子都是不带电的，从光管射出来的X射线照射到样品表面时，会激发原子内层能量低的电子，形成一个空穴，这时候原子为了保持不带电的特性，外层电子就会跃迁到空穴里，因为外层电子的能量比内层电子高，就有一部分的能量会以X荧光的形式射出来，被探测器吸收，从而转化为数字信号，得到具体的厚度数据。
所以说跟晶体结构是没有关系的，只跟它是什么元素有关系。
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ly8031
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2015/5/19 22:08:27 22楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
金属镀层成分不一样，它的的电子含量就不同，那么它的电子密度也不同，利用测量毫伏电位的方法可以区分；
1.使用STEP仪器测量镀层电解电极电位变化可以在图形上区别开来，
2.或者使用电解池恒流电解镀层，测量其电位变化曲线，记录仪/手工绘图区分。
3.STEP仪器不贵几千几万即可以，毫伏表记录仪就几千元就可以了。
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2015/5/19 22:10:24 Last edit by ly8031
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