原文由 espmarine 发表:
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热电说他的CID检测器如何的好,非破坏性读取,没有溢出;事实上,CID检测器
暗电流非常的大,只能采取"非破坏性读取"的方式来求得一个良好的信噪比;
事实上,CID检测器通常是通过多次读取信号然后求平均值的方式来降低检测
器的信号噪声。 而PE和Varian公司采取的CCD方式就没有这方面的问题。
其次,CID对可见光敏感, 对紫外区并不敏感,需要靠"涂层"来解决问题.
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楼上说得还是挺客观的。真正了解固体检测器的人应该知道各种检测器的优缺点。关键是如何扬长避短,有办法克服缺陷。比如CCD在信噪比,量子化效率、暗电流等分析性能方面都优于CID, 但有溢出的缺点,但各厂家在设计时都已采取措施来克服或抑制了,当然,这些特殊设计是要增加成本的,所以仍然有设计者坚持用CID。
对商家的话和对比一定要做科学地分析,千万不要人云亦云,茫从大流。
另外,国内的有些“学者”的书经常会有错误和偏见,懂得人碍于面子不好纠正,似懂不懂的人则可能大事吹捧。某些学术有时缺乏监督和客观啊。