主题:【讨论】SPARK-OES、ARC-OES及GD-OES等离子体发射光谱另一种定量分析方法:绝对分析法

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chauchylan
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LIBS绝对分析方法(即不需要标准物质)是1999年提出的,目前属于LIBS分析的一个研究领域,其绝对分析理论对于SPARK-OES,ARC-OES及GD-OES也应该是适用的,感觉对这方面的基础理论展开研究还是非常意义的。

有空了将等离子体绝对分析理论整理一下上传上来,大家共同探讨一下SPARK-OES,ARC-OES及GD-OES可行性。

展开这方面的研究需要用CCD检测器采集全谱图,光谱仪的波长覆盖范围尽可能的宽,分辨率尽可能的高。
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king95509
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颠覆了现在我的认知,是以什么来计算100%呢?
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2015/2/6 22:20:08 Last edit by king95509
chauchylan
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原文由 云☆飘☆逸(denx5201314) 发表:
就是直接用内置含量谱线直接计算结果?半定量?


这与内置标准曲线是不同的概念。
等离子体发射光谱的绝对分析是建立在等离子体诊断的基础之上,即通过等离子体温度及电子数密度等参数对样品中元素含量进行估算。
chauchylan
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原文由 king95509(king95509) 发表:
颠覆了现在我的认知,是以什么来计算100%呢?


首先通过CCD全谱确定待分析样品存在哪些元素,这需要CCD检测器波长范围尽可能的宽,这样可以对未知样品进行全面准确的定性分析。这些元素的含量之和应为100%,根据光谱法等离子体诊断理论(BOLTZMANN、SAHA-BOLTZMANN方程及STARK展宽等),对等离子体温度及电子数密度进行估算,结合归一化条件对未知样品中各元素含量进行估算。
前提:等离子体发射光谱绝对分析法是建立在LTE(局部热力学平衡)基础之上,若LTE不满足,则所得到的结果也将是不准确的。
SPARK-OES,ARC-OES,及GD-OES是否满足LTE???
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光电魔方
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原文由 chauchylan(chauchylan) 发表:
原文由 云☆飘☆逸(denx5201314) 发表:
就是直接用内置含量谱线直接计算结果?半定量?


这与内置标准曲线是不同的概念。
等离子体发射光谱的绝对分析是建立在等离子体诊断的基础之上,即通过等离子体温度及电子数密度等参数对样品中元素含量进行估算。
不同元素,同功率下等离子体温度及电子数密度等是有差异?差异的大小可以进行判断吗?
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chauchylan
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原文由 云☆飘☆逸(denx5201314) 发表:
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就是直接用内置含量谱线直接计算结果?半定量?


这与内置标准曲线是不同的概念。
等离子体发射光谱的绝对分析是建立在等离子体诊断的基础之上,即通过等离子体温度及电子数密度等参数对样品中元素含量进行估算。


不同元素,同功率下等离子体温度及电子数密度等是有差异?差异的大小可以进行判断吗?
这主要取决于元素的原子能级及电离度等自身的性质。
同样的功率,能级差较小的元素,则越容易发生跃迁,所对应的特征谱线强度也就越强。反之,则谱线强度就越弱。

king95509
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用人工神经网络模式建立多维模型,取代现在的内标法的一维模式,能否应用到火花光谱中去呢。理论上这个神经网络模型模式需要有大量的标样去训练,然后就可以实现对任意含量元素的分析。不知道设想可行不可行?
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