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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：XRF分析金属有害物质的干扰问题

浏览0 回复12 电梯直达
linze1981
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发表于：2006/10/15 21:37:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我是一家公司的品质管理人员，为了应对ROHS指令，在用XRF对供应商的来料进行分析时，发现所测的Pb,Cd的偏差很大，大概在30%左右，但往往发生尴尬的现象，就是我们测试的不合格，客户提供的报告却合格，这给我们的工作带来不便。我们知道测金属中的元素，往往偏差大，但我希望各位使用过XRF的经验同仁，能否提供下如何去校正才能使测试结果更有效。谢谢！
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蛋蛋
sxm19810302
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2006/10/15 21:49:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
利用XRF测试误差是必然的,偏差只能减小,不能避免,它基本上属于半定量分析,另外XRF软体资料一般是以常见的塑胶样品建立起来的,当然也有少部分的金属样品,但这些都远远不能满足实际使用的各种材料,这也是引起偏差的主要原因,还有就是XRF测试依赖原子激发放射光谱,这样的话不能使测试样品数据均一化,有偏差,另外目前所存在的元素,有很多激发能量比较接近,所以这也会带来很大影响.
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zaku
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2006/10/17 17:29:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其他元素的干扰.典型的干扰有
Cd:可能的干扰来自溴,铅,锡,锑~~
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zz小蜗牛
zhugelin
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2006/10/19 11:42:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
铅会受溴和砷的干扰,As干扰PbLa Br干扰PbLb
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focus1499
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2007/1/18 1:40:00 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 linze1981 发表:
我是一家公司的品质管理人员，为了应对ROHS指令，在用XRF对供应商的来料进行分析时，发现所测的Pb,Cd的偏差很大，大概在30%左右，但往往发生尴尬的现象，就是我们测试的不合格，客户提供的报告却合格，这给我们的工作带来不便。我们知道测金属中的元素，往往偏差大，但我希望各位使用过XRF的经验同仁，能否提供下如何去校正才能使测试结果更有效。谢谢！

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考慮鍍層與底材的關係,因X-ray強度可能因鍍層厚薄.是否能針測至底材為考量因素,如你所言的情況可能為
1.鍍層有pb含量但底材無pb含量,在進行化測時鍍層的高含量的pb被底材因重量比例所稀釋,導致值高變值低.
2.鍍層無pb等元素含量但底材有值,由於X-ray無法穿透鍍層偵測底材時會導致誤判結果與化性測試差異極大.
所以建議去除鍍層偵測.
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liuhuanvsjay
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2007/1/19 21:44:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 focus1499 发表:
原文由 linze1981 发表:
我是一家公司的品质管理人员，为了应对ROHS指令，在用XRF对供应商的来料进行分析时，发现所测的Pb,Cd的偏差很大，大概在30%左右，但往往发生尴尬的现象，就是我们测试的不合格，客户提供的报告却合格，这给我们的工作带来不便。我们知道测金属中的元素，往往偏差大，但我希望各位使用过XRF的经验同仁，能否提供下如何去校正才能使测试结果更有效。谢谢！

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考慮鍍層與底材的關係,因X-ray強度可能因鍍層厚薄.是否能針測至底材為考量因素,如你所言的情況可能為
1.鍍層有pb含量但底材無pb含量,在進行化測時鍍層的高含量的pb被底材因重量比例所稀釋,導致值高變值低.
2.鍍層無pb等元素含量但底材有值,由於X-ray無法穿透鍍層偵測底材時會導致誤判結果與化性測試差異極大.
所以建議去除鍍層偵測.

这样很麻烦吖...为了检测许多东西都要剪碎什么的..
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ceec200311
ceec200311
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2007/1/26 13:45:00 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
X荧光在ROHS领域只是一种粗测，筛选设备，又不做精准测量，那么如果仅仅只是做品质控制的话，别的仪器可达不到，楼主所提的元素干扰，那肯定是存在的，但也要看每个公司的软件处理怎么做。
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huangcf22222
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2007/1/26 16:41:00 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XRF没有自己的方法来做校正，误差很大，但如果校正的好，误差又可以减到很小。我是第三方检测机构的，我们的XRF就做的很好，值得借鉴！
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天枫
thunder_pk
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2007/1/29 16:22:00 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 huangcf22222 发表:
XRF没有自己的方法来做校正，误差很大，但如果校正的好，误差又可以减到很小。我是第三方检测机构的，我们的XRF就做的很好，值得借鉴！


请问你是如何做的？可以说一下吗？
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SOMS课题组
soms-jameskin
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2007/1/29 17:16:00 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
X荧光的这个误差率正常的，如果你要精确测定不能用XRF的！！X荧光一般作常量还可以，微量痕量原则上不能作数据的！！你们要求不高作筛选大概可以吧，但要求高的不能用XRF
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mingyueqingfeng
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2007/2/1 20:34:00 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XRF检测表面光滑，材质均一的样品时，精度比较高，可以考虑改善样品
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