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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：问一个用EDXRF检测rohs元素的问题

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bobbob
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发表于：2006/10/17 22:02:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我们单位现在做rohs检测，用EDXRF。
但是由于样品多种多样，标样又有限，所以做的准确度不是很好。
例如：我们做电源线绝缘层时，标样是比较纯的PVC。
我们的样品很多是加了Ca和Ti的，所以基体不一样，造成测量结果不太好。
请问这样的情况怎么办，我们测量还需要比较准确的数据。
是找加了Ca和Ti的标样重新做一个标准曲线，还是有别的什么办法。
先谢了
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2006/10/18 7:55:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XRF 測試的准確性本身就很低,工作曲線是一個主要的影響因素,因為我們沒有辦法做到每一種材質的標准品都具備,建議在測試的時候單位時間增加偵點個數,另外需要扣除背景干擾.
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george
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2006/10/18 8:44:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
基本上是没有楼主要的这种标样。XRF本身就是一个简便的筛选设备，不宜作为精确定量的仪器。
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tututututu
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2006/10/18 10:16:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我知道一般EDXRF都会提供相关CABLE的检测方法， 这已经足够了， 本来EDXRF就是以定性分析的仪器
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toudada
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2006/10/18 13:12:00 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
实在不放心就拿自己的样品送给权威机构检测一下，把这个样品当标样用吧
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bobbob
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2006/10/18 20:52:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
那这样拿样品去分析的化要做全分析了。
不然的化ICP也没有办法很准地测出高含量的元素。
例如Ca含量40％的话，ICP测出来也不一定很准啊
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bobbob
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2006/10/18 21:00:00 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请问什么叫单位时间增加侦点个数
另外背景干扰不是在标准曲线建完后已经扣除了吗，是不是在回归计算的时候扣除啊，象cd要扣除Rh的干扰，Cr要扣除cl的干扰等等.
请老师指教
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