原文由玉米馒头(alhoon)发表:我有个方法,把仪器背面的电路板的盖子打开散热,然后分析,看是不是热引起的电路器件不稳定,我们遇到过其他问题!原文由 zhaobi(Ins_de4d7515) 发表: 开机一晚上,第二天做PHD又变了,不稳定,我这个是仪器配的S13监控样得到元素强度,一般都是第一次分析的强度大,后面稍微下降。看强度的话,第六次测试的Ca P Na强度均有增加,然后又恢复正常,这种问题换维修工程师可能也不是太好解决,因为它偶尔发作…样品是连续分析的还是有一定时间间隔?我之前每天大批量分析的时候习惯是做几件实际样品之后再做漂移校正。打电话问问丁工吧。