原文由 troy_chen 发表:
这是其TEM
原文由 jhmn 发表:
显然两张TEM像不是在同一样品区域拍照的,是吗?
高倍像所在区域,样品 is sitting on the carbon surpporting film. 而低倍像显示的区域里,样品则 is crossing the hole. 所以,很难直接比较这两张像。
从第二张像也很难得出结论认为材料结构是无序的,因为,一是这张像所用的离焦量比较大。二是,样品相对于电子束的取向不清楚。配一张选区电子衍射照片,会有助于结构分析。
另外,我不熟悉这种材料,但从所提供的两张TEM像来看,该样品应该容易受电子辐照损伤。因此,在实验过程中要尽量减少电子剂量,在结果分析中也要考虑到这一因素,正如shxie在回帖中所述。
谢谢您!确实如您所说。该材料容易受电子辐照损伤,怎么样避免或是减少呢?在实验过程中要尽量减少电子剂量时,怎么做呢?我到时候可以提醒帮助做试验的老师。再次感谢!