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透射电镜（TEM）
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主题：【求助】关于样品TEM能量损失谱的问题。

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发表于：2010/01/12 12:59:11 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
各位。我有一个样品大约是个800nm直径的汞球，上面可能包覆了一层有机小分子。我想通过ELLS看下表面是不是含有N,O等有机元素。不知道我的样品是不是太厚，或者能不能做这个分析呢？求助。
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2010/1/12 18:15:51 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我做过600nm左右的Si balls，用EDS足够了。如果你只是想找N，O，为什么不用EDS？简单方便的多。
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2010/1/13 11:31:14 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我的是800nm左右的汞球，根本不能照，用200kV的电子伏特照下去一下就挥发了。所以想用下别的方法比如ELLS。
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2010/1/13 22:40:32 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
你说的是EELS吧，EELS也是在电镜中的，也是需要200kv啊，最多通过STEM可能damage会小点，但是800nm的厚度基本不可能做EELS
该帖子作者被版主 ustb加 5积分， 2经验，加分理由：热心帮板油解答问题
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