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ID:sht2006
行业:其他
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ID:huangjw
ID:stony007
ID:wxmtsinghua
原文由 huangjw 发表:我想没有很多不同于其它薄膜的测试方法,可能聚合物的晶面间距会较大,需要从较小的衍射角3度开始测量。如果不想见到基底的衍射峰,可以使用掠入射法,当然,如果基底是玻璃片就没有必要了。
ID:willcon
ID:cyk822
ID:Ins_4d4e83c5
原文由 XRD(huangjw) 发表:我想没有很多不同于其它薄膜的测试方法,可能聚合物的晶面间距会较大,需要从较小的衍射角3度开始测量。如果不想见到基底的衍射峰,可以使用掠入射法,当然,如果基底是玻璃片就没有必要了。
ID:v3078320
原文由 Ins_4d4e83c5(Ins_4d4e83c5) 发表: 您好,我想测试有机聚合物薄膜的XRD图,我看文献是从3度-30度,我打算涂在单晶硅片上测,请问采用哪种方法呢,是掠入射XRD么?
原文由 田仕家(v3078320) 发表: 对的,GI-XRD。
原文由 Ins_4d4e83c5(Ins_4d4e83c5) 发表: 还想请教一下,聚合物薄膜测XRD之前,需要处理么?比如热退火,,,好像不处理没有晶体