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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:这其实是个非常好的问题。两个像点之间的分离程度，这是所有科学仪器分辨率的普适定义，不仅仅是成像类仪器，甚至可以扩展到谱学领域。这是我知道的唯一一个大家都认可的分辨能力的定义。但是这个定义在实际使用的时候操作性太差，什么叫分离？什么叫没有分离？所以，具体应用的时候需要加上一个量化过程，这个过程是人为规定的，只是为了提供一个可以横向客观比较的标准，过程本身可能具有一定的物理背景，但并不一定具有物理学上的必要性。Rayleigh判据就是这样一个例子，它用像点强度下陷量作为衡量指标。但是有人觉得太强了，可以再放宽，还有一些是没什么缘由，在某些领域约定俗成长期使用，所以还有Sparrow，Houston，Dawes等等。在电镜里，直接量像点显然不太方便，而且到底哪些地方才是物体真正的像也是个问题。所以加了做了一堆模型近似和实验前提之后，HRTEM可以用薄非晶样品Scherzer欠焦的方法来定义分辨率。在透射电镜领域，这是唯一一种写进书本的仪器分辨率，认可度最高。与光学成像的情况类似，Scherzer欠焦并不是唯一一个可以用的量化标准，还有其它一些欠焦量，可以根据需要稍微变一变。至于STEM，除了测量像点分离之外还没有学界普遍认可的分辨率评价方法。BF像可以参考HRTEM的方法。ADF就比较麻烦，非晶样品信号太弱，晶体样品自身结构的不均匀性又会影响对信息传递能力的客观评价。另外，信息传递能力和信号噪音等问题还有关，不光是分辨能力的问题。现在常见的傅里叶变换方法其实是更侧重展示信息传递能力。但是用晶体样品做这个评价我认为还是有问题的。仪器的作用其实可以认为是传递信息，把样品信息以实验数据的形式传递出来，这是个更底层的概念。分辨本领是个更直观的东西，倾向于数据的直接解读。二者有关联，有区别，再加上一些其它方面的考虑，于是存在很多概念（点分辨率，信息分辨率，相干信息分辨率，非相干信息分辨率，晶格分辨率...）。不能简单说哪个好，哪个差，要兼顾操作性，科学性，信息量，便利性等多方面因素，最后的结果就是根据需要取个折衷。万分感蓝莓版主的详细解答，明白了 salute^_^
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