主题：【讨论】波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪

原文由 291943731q(291943731q) 发表:
如今的电制冷小型SDD检测器分辨率可以到达132—140ev，Be窗膜厚度仅8微米。

以后还会提高，精度和准度肯定会超过波散的，WD-XRF几十年没有什么大的进步了，ED-xrf倒是突飞猛进，像全反射ed-xrf市场化产品已经LLD达到几十ppb，实验室设备检测线更低（实验环境影响）。

原文由 zbb1982(zbb1982) 发表:

原文由 fsnightrain(fsnightrain) 发表:
对了！热电新的能量色散X荧光据说采用新型SiLi检测器，灵敏度有很大的提升，检测限更低，生命更长，能达到10年左右。不知道是否如宣传的这样，希望知情者不吝赐教！

Si-Li探测器的测试效果确实比SiPIN或者是SDD的都要好，但是有一个缺点就是环境温度要求比较高，一般的Si-PIN,SDD要求的环境在-40度，但是Si-Li的要求在-90度，用电制冷的方法比较难实现，一般使用液氮制冷，如果能用电制冷的话，以后将会是一个趋势了

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

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对了！热电新的能量色散X荧光据说采用新型SiLi检测器，灵敏度有很大的提升，检测限更低，生命更长，能达到10年左右。不知道是否如宣传的这样，希望知情者不吝赐教！

Si-Li探测器的测试效果确实比SiPIN或者是SDD的都要好，但是有一个缺点就是环境温度要求比较高，一般的Si-PIN,SDD要求的环境在-40度，但是Si-Li的要求在-90度，用电制冷的方法比较难实现，一般使用液氮制冷，如果能用电制冷的话，以后将会是一个趋势了

现在电制冷的产品有哪些？

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如今的电制冷小型SDD检测器分辨率可以到达132—140ev，Be窗膜厚度仅8微米。

以后还会提高，精度和准度肯定会超过波散的，WD-XRF几十年没有什么大的进步了，ED-xrf倒是突飞猛进，像全反射ed-xrf市场化产品已经LLD达到几十ppb，实验室设备检测线更低（实验环境影响）。

原文由 zbb1982(zbb1982) 发表:

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如今的电制冷小型SDD检测器分辨率可以到达132—140ev，Be窗膜厚度仅8微米。

以后还会提高，精度和准度肯定会超过波散的，WD-XRF几十年没有什么大的进步了，ED-xrf倒是突飞猛进，像全反射ed-xrf市场化产品已经LLD达到几十ppb，实验室设备检测线更低（实验环境影响）。

楼主的这个设想估计比较难实现，能散想超过波散比较难的，能量色散的精度要靠电子元件本身的精度，温度的影响，电子噪音的影响，幅度的采集精度去保证，而波散主要是考机械运动控制精度和光学器件去保证，所以估计非常难。

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如今的电制冷小型SDD检测器分辨率可以到达132—140ev，Be窗膜厚度仅8微米。

以后还会提高，精度和准度肯定会超过波散的，WD-XRF几十年没有什么大的进步了，ED-xrf倒是突飞猛进，像全反射ed-xrf市场化产品已经LLD达到几十ppb，实验室设备检测线更低（实验环境影响）。

全反射的检测器分辨率达到多少？

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如今的电制冷小型SDD检测器分辨率可以到达132—140ev，Be窗膜厚度仅8微米。

以后还会提高，精度和准度肯定会超过波散的，WD-XRF几十年没有什么大的进步了，ED-xrf倒是突飞猛进，像全反射ed-xrf市场化产品已经LLD达到几十ppb，实验室设备检测线更低（实验环境影响）。

全反射的检测器分辨率达到多少？

当然随着sdd检测器分辨率走呀。