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分子荧光光谱

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主题：【讨论】固体荧光的测量

浏览0 回复27 电梯直达

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philomena

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2008/5/30 17:51:46 11楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

45°的散射最强，一般选择30°或者60°的入射最佳。
另外，粉末样品架会好一点，只是粉末样品架的窗口不好选，需要和自己样品的荧光峰区分开。

原文由 ggbr 发表:
原文由 rapin 发表:
原文由 zehopa 发表:
粉末固体荧光的测量受样品表面情况的影响很大，重复测量同一样品，表面情况稍有不同，荧光强度就发生很大变化。而且并不是表面越平整，越细密，强度就越大。
我用很多样品来压样，把表面尽量压成统一的形态，也试过用红外的压片机来压，可是效果不是很好。
不知道大家有什么方法？

据说选择一个合适的出射角可以避开反射等干扰。叫什么魔鬼角来的吧。

老兄说的对，很多时候角度稍微变一些就会相差较多，可以找厂家定制几个样品架就可以了。

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青山依旧

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2008/6/2 14:23:03 12楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

随机带的样品架和样品池，作出来的结果很好呀

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zolix_james

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2008/6/9 15:47:41 13楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 zehopa 发表:
粉末固体荧光的测量受样品表面情况的影响很大，重复测量同一样品，表面情况稍有不同，荧光强度就发生很大变化。而且并不是表面越平整，越细密，强度就越大。
我用很多样品来压样，把表面尽量压成统一的形态，也试过用红外的压片机来压，可是效果不是很好。
不知道大家有什么方法？

其实说实话，目前固体样品架都不怎么样，关键问题在于角度调整

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白水山石

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2008/6/13 21:13:42 14楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

角度调整有什么规则可循吗?谢谢!请指教!

原文由 zolix_james 发表:
原文由 zehopa 发表:
粉末固体荧光的测量受样品表面情况的影响很大，重复测量同一样品，表面情况稍有不同，荧光强度就发生很大变化。而且并不是表面越平整，越细密，强度就越大。
我用很多样品来压样，把表面尽量压成统一的形态，也试过用红外的压片机来压，可是效果不是很好。
不知道大家有什么方法？

其实说实话，目前固体样品架都不怎么样，关键问题在于角度调整

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jimmyho

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2008/6/14 11:37:50 15楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

Please use solid sample holer.

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xmuwxd

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2008/6/25 16:25:58 16楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

1 用特制的固体架
2 样品颗粒要均匀
3 样品要压实，每次量加入差不多，最好用天平称一下。

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fragr

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2008/7/13 17:19:51 17楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

理论上讲，你测试的结果是无效的，正如你提到的测试条件的不确定性。如果对比不同的样品的发光强度，需要测试PLQY；

你提到到和同行们提到的只能用于定性光谱特征。

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huangziw

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2009/11/15 22:50:39 18楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

分子荧光法测定固体样品，思路确实很有创新点，不知道应用的情况如何？各位大侠可不可以说明下你们测定的具体样品类名称？依据的方法？好像这方面的文献很少哦

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fragr

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2009/11/17 0:21:33 19楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 zehopa(zehopa) 发表:
粉末固体荧光的测量受样品表面情况的影响很大，重复测量同一样品，表面情况稍有不同，荧光强度就发生很大变化。而且并不是表面越平整，越细密，强度就越大。
我用很多样品来压样，把表面尽量压成统一的形态，也试过用红外的压片机来压，可是效果不是很好。
不知道大家有什么方法？

量子产率是唯一的比较粉末的发光的方法。

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