主题:【讨论】增加比对的template可以提高旋进电子衍射的角分辨率吗?

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imrszl
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旋进电子衍射作为一种在TEM下的标定取向的方法,相较于SEM-TKD而言无疑有更好的空间分辨率。旋进电子衍射的衍射图样是斑点,而不是菊池线,理论上来说用菊池线标定的精度大概在0.2度左右,而用斑点的标定精度不会超过1度。但是旋进电子衍射由于加了旋进角,是hollow-cone照明,相当于是汇聚束电子衍射的外圈,我觉得只要旋进角大于布拉格散射角,就可以不依赖非弹性散射采集到类似于菊池线的信息,因此实际的角分辨率应该可以超过斑点标定的角分辨率极限。标定旋进斑点的方法是将采集到的斑点和模拟的系列斑点做乘积比对,所以角分辨率还和模拟斑点的密度有关。所以,我们是否可以靠增加模拟斑点的密度来提高标定的角分辨率呢? 相关问题我在网上有搜到一篇ped对比tkd的文章(Crystal orientation angular resolution with precession electron diffraction),但是作者只考虑了ped是spot pattern就得出了其角分辨率精度只能到1度,我并不是很认同,想请教一下坛内各位前辈。
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蓝莓口香糖
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不熟悉旋进,但是SAD1度的误差听起来相当大,这已经超过了很多低指数衍射的布拉格角了,衍射强度应该会有明显变化,这个技术不应该这么不敏感吧。是不是算法精度太差,人眼能看出来软件却看不到?楼主可以考虑加上会聚角做旋进,也许能有用。HCB-CBED,Conventional Transmission-Electron-Microscopy Techniques in Convergent-Beam Electron Diffraction,Tanaka, 1986.
imrszl
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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:不熟悉旋进,但是SAD1度的误差听起来相当大,这已经超过了很多低指数衍射的布拉格角了,衍射强度应该会有明显变化,这个技术不应该这么不敏感吧。是不是算法精度太差,人眼能看出来软件却看不到?楼主可以考虑加上会聚角做旋进,也许能有用。HCB-CBED,Conventional Transmission-Electron-Microscopy Techniques in Convergent-Beam Electron Diffraction,Tanaka, 1986.
感谢建议!!下回我试试用CBED,就是不知道软件能不能模拟cbed的斑点。这篇文章我貌似之前也有看过,Tanaka做了好多早期cbed相关的工作,我最近也正在看他那本关于STEM的书,写得蛮简洁的。
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