主题：【分享】如何确定测量设备的校准周期

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JOE HUI

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发表于：2024/03/19 21:18:24 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

大部分实验室制定校准方案时，校准周期往往固定不变。但事实上，过长的校准周期会导致设备失准或失效，过短的校准周期会增加校准费用及成本。实验室应对不同的设备制定合理的校准周期，并根据校准结果，做出相应的调整，那具体该如何去做呢？

第一：确定校准周期的原则

确定校准周期一般遵循两条原则:

一是在这个周期内测量仪器超出允许误差（泛指方法对设备所规定的各项技术指标，包括：示值误差、重复性、稳定性、检出限等）的风险尽可能最小;

二是经济合理，使校准费用尽可能最少。

第二：设备初始（第一次）校准周期的确定依据

确定设备初始校准周期时，实验室可参考计量检定规程/校准规范、所采用的方法和仪器制造商建议等信息。此外，实验室可主要综合考虑以下因素：

1. 预期使用的程度和频次；

2. 环境条件的影响；

3. 测量所需的不确定度；

4. 最大允许误差；

5. 设备调整（或变化）；

6. 被测量的影响（如高温对热电偶的影响）；

7. 相同或类似设备汇总或已发布的测量数据。

第三：设备后续校准周期的调整

校准周期的调整方法，通常有两种：反应调整法和期间核查法

方法一：反应调整法

根据设备初始校准后、经一定时间间隔（初始校准周期）的后续校准结果来确定后续校准周期。比如：2021年初始校准，校准周期2年，2023年的校准结果出来后，我们可以根据这次校准结果，确定下一次周期是延长到2.2年，还是缩短到1.5年。

反应调整的判定原则：

1.若校准结果位于最大允许误差的80%内，则后续的校准周期可延长；

2.若校准结果超出最大允许误差，则后续校准周期应缩短；

3.若校准结果位于最大允许误差80%和100%之间，或对校准结果的符合性难以做出判断，则实验室应考虑缩短校准周期或增加期间核查频次，对设备性能做进一步验证。

反应调整校准周期的方法，一般有两种，本文我们主要介绍简单反应调整方法：I1= I0（1+a）或I1= I0（1-b）（1）

公式里：I0为调整前的校准周期，I1为新的校准周期，a是增量系数来延长校准周期，b是减量系数，来缩短校准周期。

通常情况下，实验室可以先设定a值和长期平均测量可靠性目标Rt的值，b可以通过公式： (2)

下面我给大家举个例子，方便理解，比如：一台设备，我们a取0.1，Rt取90%，由公式（2）可得，b=0.58，建议校准周期24个月，校准结果出来后，我们发现校准结果在最大允许误差内且符合判定原则第一条，我们要延长，我们利用公式（1）：I1= 24（1+0.1）=26.4月

新校准周期，可由原来的24个月，延长到26.4个月。

方法二：期间核查法

适用范围：该方法适用于实验室配置了核查标准、且核查标准的准确度等级高于被核查设备的情况，

校准周期的方法：定期使用核查标准对重要参数及关键测量点进行核查。

当核查结果未超出最大允许误差，且设备的稳定性较好时，不需要校准；

当核查结果接近且有超出最大允许误差的趋势时，应及时采取措施并进行校准。

最后，设备校准周期不宜超过3年。对于校准周期较长的设备，实验室应有充分有效的技术手段（如期间核查）作为支撑。