主题：【讨论】大家讨论一下能谱中的二次电子边问题

原文由 surfphys 发表:
在做价带谱的实验研究中，通常会非常关心二次电子边的位置和强度。但在我的仪器上(VG ARUPS10)，时常会出现二次电子边起不来的现象，也有同行反映了类似问题，多认为是由于样品接触不好所导致，但我一直觉得还有别的某种未知因素。因为我的仪器有时候会出现连续好几天二次边都起不来的情况，无论我怎么加强样品的接触，消除外电磁场干扰等等。很是不解。
不知道大家有没有遇到过类似的问题，如何解决的？
欢迎email写信讨论。我的email:zhangwh@ustc.edu.cn

原文由 jidushouxing 发表:

原文由 surfphys 发表:
在做价带谱的实验研究中，通常会非常关心二次电子边的位置和强度。但在我的仪器上(VG ARUPS10)，时常会出现二次电子边起不来的现象，也有同行反映了类似问题，多认为是由于样品接触不好所导致，但我一直觉得还有别的某种未知因素。因为我的仪器有时候会出现连续好几天二次边都起不来的情况，无论我怎么加强样品的接触，消除外电磁场干扰等等。很是不解。
不知道大家有没有遇到过类似的问题，如何解决的？
欢迎email写信讨论。我的email:zhangwh@ustc.edu.cn

请问什么是二次电子边？可以说详细点吗？我对于XPS基本上什么也不懂的
非常感谢了！

原文由 wuzl 发表:
请问surfphys,如何评价二次电子截止边的好坏，如陡峭程度，即能量分辨率？请指教。谢谢！北京师范大学 吴正龙 wuzhenglong36@sina.com。

原文由 surfphys 发表:

原文由 wuzl 发表:
请问surfphys,如何评价二次电子截止边的好坏，如陡峭程度，即能量分辨率？请指教。谢谢！北京师范大学 吴正龙 wuzhenglong36@sina.com。

能量分辨率不应由二次电子边的陡峭程度来衡量，两者之间没有必然联系吧。

样品和谱仪接触后，由于良好的电接触，两者的费米能级保持平齐。但两者的真空能级会在不能的位置。当样品功函大于仪器功函时，分析器探测到的最低动能为功函之差；当样品功函小于仪器功函时，探测到的最低动能为0，这时候如果要确切知道二次电子边的位置（为了得到全谱宽），必须要在样品上施加一定的负偏压。通常观察到的二次电子截止边都非常陡峭，截止边位置由陡峭边的切线和基线的交点来确定。