原文由 cz_sem 发表:
请教sysmith
老有人问能谱分析的样品深度问题(考虑到表面镀层和基体),但不同加速电压,不同元素,不同密度的样品,作用深度是不一样的,但一般情况下不会超过多深,有这方面的介绍吗?
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一般情况下 X射线激发体积在0。5到15立方微米, 业界有一个经典模拟程序,可以模拟 电子束高压 (E0),样本密度 (I) 和 X射线激发体积(V)三者之间的关系。
这个程序是能谱界的老大哥 PRINSTON GAMMA TECH (PGT) 开发的,PGT现在已经被 BRUKER并购。