原文由 zhang08xun 发表:
EDS来分析样品成份时,发现有异常。
异常现象为:
样品为纯Si片,不含铝元素,分析的是6英寸si片的截面。
加速电压为5kv, 谱图中没有铝峰
加速电压为10kv, 谱图中有铝峰
加速电压为15kv, 谱图中有铝峰
请大家见附件,发表下自己的看法,是能谱仪有问题吗?能谱图
原文由 zhang08xun 发表:
EDS来分析样品成份时,发现有异常。
异常现象为:
样品为纯Si片,不含铝元素,分析的是6英寸si片的截面。
加速电压为5kv, 谱图中没有铝峰
加速电压为10kv, 谱图中有铝峰
加速电压为15kv, 谱图中有铝峰
请大家见附件,发表下自己的看法,是能谱仪有问题吗?能谱图