主题:【求助】请问如何量取HRTEM中的晶格条纹间距

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lonestar
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因为HRTEM图像中有明暗相间的条纹,那么在量取晶格条纹间距时,是量取明条纹?暗条纹?还是应将明条纹+暗条纹作为一个整体?


谢谢!
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怪味陈皮
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因为HRTEM图像中有明暗相间的条纹,那么在量取晶格条纹间距时,是量取明条纹?暗条纹?还是应将明条纹+暗条纹作为一个整体?


谢谢!

把高分辨像做一下Fourier变换,在Fourier变换谱上测量就很直观了。
lonestar
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因为HRTEM图像中有明暗相间的条纹,那么在量取晶格条纹间距时,是量取明条纹?暗条纹?还是应将明条纹+暗条纹作为一个整体?
谢谢!

广义地讲,高分辨像的条纹只代表了晶体的周期性,或者说晶体的面间距。但这不一定是基本面间距(如(100)),而也有可能是基本面间距的分数(如(200))。既然如此,测量条纹间距就应该是一个完整的周期。通常在倒易空间(即像的FFT)测量更方便。
从条纹上,我们大概能说的不外乎周期性、面间距、晶体的取向、结晶的状态、晶体的完整性、缺陷存在与否等。没有计算机模拟扶助,想要说原子坐在亮纹还是暗纹,恐怕没有那么容易。
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