主题:【求助】请问用能量色散X荧光光谱仪测试首饰表面时,为什么测不准?

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wanglei3455
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大家好,我现在在孟加拉,在黄金首饰店里他们用XRF仪器测试首饰的外壁和内壁,但发现测样品平面部分时,侧的值非常的准,但改为测其他的凸凹部分的时候就存在了很大的误差,误差在1克拉左右,而平面和凸凹部分都是来自同一个均匀金块,

  请问是不是测试粗糙表面时表面会对结果产生很大影响?具体的影响是怎么产生的?如何去克服这种影响呢?仪器数据的标定是用的平面金标样标定的,这是不是也是其中一个数据不准的原因呢?

  谢谢了!
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jam123456
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面積太少、多孔、釘沙面及足金有電分色部位!!! 也會減少反射的x營光訊号!!!

均勻性、表面效應、化學態、表面結構、厚度、粒度…
该帖子作者被版主 madprodigy5积分, 2经验,加分理由:积极应助
cuishuanghua
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平面和凹凸面测试结果是有差距的,中间空隙会影响结果
colin40826
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cfanivan
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你肯定是测到焊接点了,或者首饰不均匀,镀层也会有影响。
该帖子作者被版主 albert8009222积分, 2经验,加分理由:帮助
金水楼台先得月
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样品的形状应该尽量跟金标准的形状保持一致,特别是测定面。
michael0315
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测试结果与样品表面是否平整有很大的关系。
在测试之前,都是要求测试光滑平整的样品。
金水楼台先得月
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原文由 michael0315(michael0315) 发表:
测试结果与样品表面是否平整有很大的关系。
在测试之前,都是要求测试光滑平整的样品。


不过首饰之类的东西表面一般都不规则,不知道这类样品有没有专门的标准方法?
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