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主题：【求助】请问用XPS的全谱能不能做定量分析呢？

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19843411
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发表于：2009/12/31 16:29:45 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我在做合金表面的XPS分析的时候没有考虑到Cu这种元素，结果老师做好后我在全谱中发现了这种元素，但没有对它进行分峰，所以也就没法进行定量分析，所以我想问一下哪位知道用全谱是否能进行定量分析，怎么做呢？谢谢了!
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七月冰
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2010/1/4 10:56:02 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
在我使用的仪器及其测试系统中，全谱是可以做定量的，而且，与窄谱得到的结果差不多。
但是，不知你用的是什么仪器、什么软件，所以，也不好说。你可以咨询一下给你做测试的人员。
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yuansu123456
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2010/1/8 17:04:07 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
可以的，全谱与细扫普的区别在于能量分辨率和峰强度不一样，在相同循环次数下，全谱峰强但分辨率低，细谱峰弱但分辨率高，各有优点和缺点，只要元素出峰明显，都可以用来定量。结果差不多的。
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feixiong5134
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2010/3/1 14:31:19 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XPS不可以做定量分析的，只能是半定量的。
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feixiong5134
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2010/3/1 14:33:51 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XPS不可以做定量分析的，最多也是半定量
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charley86577
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2010/4/23 15:12:42 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
哈哈，XPS误差在10％，是可能的
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