主题：【求助】关于X荧光定量分析中的基本参数法如何实现

你得翻找些分析方面专业书籍了！

因为常用经验系数法，所以对基本参数法也就停留在了解层面上。
  基本参数法，是摆脱传统利用标样定量的直接理论计算方法。计算上主要依据初级辐射光谱分布；质量吸收系数；荧光产额三个基本参数直接计算X射线荧光强度。
  只需要一个标准样品，通过迭代渐进法计算，求得待测元素的含量。
  不知道对楼主有没有帮助。

理论的终究没有实际的更可靠，所以FP法就主要停留在了进行理论研究的那些人上，而实际的使用XRF来报数据的使用者，大都选择了通过大量标准样品制作工作曲线的经验系数法上，毕竟这个更可靠一些。

原文由 tyrantgqy(tyrantgqy) 发表:
因为常用经验系数法，所以对基本参数法也就停留在了解层面上。
  基本参数法，是摆脱传统利用标样定量的直接理论计算方法。计算上主要依据初级辐射光谱分布；质量吸收系数；荧光产额三个基本参数直接计算X射线荧光强度。
  只需要一个标准样品，通过迭代渐进法计算，求得待测元素的含量。
  不知道对楼主有没有帮助。

请问有没有人尝试过,我现在在尝试,但是不知道质量吸收系数如何求,查好多多资料也没有找到,希望那位高人指点一二.谢谢

现在许多仪表都说是使用基本参数法实现,很想知道一下.

原文由 shujun0121(shujun0121) 发表:
现在许多仪表都说是使用基本参数法实现,很想知道一下.

你可以试验一个不锈钢，我把Cr,Fe,Ni的参数给你吧
谱线分数：0.8821 0.8929 0.8771
跃迁因子  0.881 0.876 0.872
荧光产额  0.275 0.34 0.406

质量吸收系数    83018*power(E,-2.757)    Cr
                          10112*power(E,-2.652),82058*power(E,-2.682)  Fe  E为激发限的分界点
                          12372*power(E,-2.615),101164*power(E,-2.682)  Ni  E为激发限的分界点
我拟合好的公式，计算不锈钢的话，Cr,Fe,Ni的相对强度和测量强度的R2都在0.999以上。
原级谱图：Rh,125Be，25Angle,15kV的电压，Ag,200Be,不会差很多
条件应该都够了，可以试验了，计算过程和最后的回归分析应该会吧，不过现有的回归都不会收敛的。
5.995 4.20E-02
6.065 4.14E-02
6.134 4.08E-02
6.204 4.02E-02
6.274 3.96E-02
6.344 3.90E-02
6.414 3.84E-02
6.484 3.78E-02
6.553 3.72E-02
6.623 3.66E-02
6.693 3.60E-02
6.763 3.54E-02
6.833 3.49E-02
6.902 3.43E-02
6.972 3.38E-02
7.042 3.32E-02
7.112 3.27E-02
7.182 3.21E-02
7.251 3.16E-02
7.321 3.10E-02
7.391 3.05E-02
7.461 3.00E-02
7.531 2.95E-02
7.6 2.90E-02
7.67 2.85E-02
7.74 2.80E-02
7.81 2.75E-02
7.88 2.70E-02
7.949 2.65E-02
8.019 2.61E-02
8.089 2.56E-02
8.159 2.52E-02
8.229 2.47E-02
8.299 2.43E-02
8.368 2.38E-02
8.438 2.34E-02
8.508 2.29E-02
8.578 2.25E-02
8.648 2.21E-02
8.717 2.17E-02
8.787 2.13E-02
8.857 2.09E-02
8.927 2.05E-02
8.997 2.01E-02
9.066 1.97E-02
9.136 1.93E-02
9.206 1.90E-02
9.276 1.86E-02
9.346 1.82E-02
9.415 1.78E-02
9.485 1.75E-02
9.555 1.71E-02
9.625 1.68E-02
9.695 1.64E-02
9.764 1.61E-02
9.834 1.58E-02
9.904 1.54E-02
9.974 1.51E-02
10.044 1.48E-02
10.113 1.45E-02
10.183 1.42E-02
10.253 1.38E-02
10.323 1.35E-02
10.393 1.32E-02
10.463 1.29E-02
10.532 1.26E-02
10.602 1.24E-02
10.672 1.21E-02
10.742 1.18E-02
10.812 1.15E-02
10.881 1.12E-02
10.951 1.09E-02
11.021 1.07E-02
11.091 1.04E-02
11.161 1.01E-02
11.23 9.89E-03
11.3 9.63E-03
11.37 9.37E-03
11.44 9.12E-03
11.51 8.87E-03
11.579 8.63E-03
11.649 8.38E-03
11.719 8.14E-03
11.789 7.91E-03
11.859 7.67E-03
11.928 7.44E-03
11.998 7.21E-03
12.068 6.99E-03
12.138 6.76E-03
12.208 6.54E-03
12.278 6.33E-03
12.347 6.11E-03
12.417 5.90E-03
12.487 5.69E-03
12.557 5.48E-03
12.627 5.28E-03
12.696 5.08E-03
12.766 4.88E-03
12.836 4.68E-03
12.906 4.49E-03
12.976 4.29E-03
13.045 4.10E-03
13.115 3.92E-03
13.185 3.73E-03
13.255 3.55E-03
13.325 3.37E-03
13.394 3.20E-03
13.464 3.02E-03
13.534 2.85E-03
13.604 2.68E-03
13.674 2.52E-03
13.743 2.35E-03
13.813 2.19E-03
13.883 2.03E-03
13.953 1.88E-03
14.023 1.72E-03
14.093 1.57E-03
14.162 1.43E-03
14.232 1.28E-03
14.302 1.14E-03
14.372 1.01E-03
14.442 8.73E-04
14.511 7.43E-04
14.581 6.17E-04
14.651 4.96E-04
14.721 3.80E-04
14.791 2.70E-04
14.86 1.67E-04
14.93 7.33E-05
15 0.0 0E+00

谢谢。基本参数法中纯元素的强度如何计算啊？

个人觉得，先把基础的应用知识弄明白了，再去研究更深一些的。否则有些本末倒置了。基本参数法没有想像中的那么简单。

楼主你好。
本人从事过能量色散XRF的研究，已解决了基本参数法、薄膜基本参数法全部技术要点，包括：谱线分数、跃迁因子、荧光产额、质量吸收系数、原级X射线分布等、迭代收敛等。这些都已形成成熟的软件。
至于3楼的疑问，可以这么说：虽然FP法是理论计算，其结果确实比不上与标样对比。但用FP进行一些缺乏标样时的半定量分析完全是可行的，如果用FP法在与标样结合，则分析结果可以超过标样法。本人的软件，FP法无标样分析能达到0.01%级别的分析精度，相对分析误差主、次元素可达1%以内，微量元素可达5%以内。
如果有兴趣了解的，可以与本人联系。

给楼主提个建议，你可以看看吉昂先生编写的《x射线荧光光谱分析》这本书，这是一本关于X荧光理论的基础书，基本概念很齐全，对你会有帮助。本人两年前做毕业论文时，本书对我的帮助很大，在此也谢谢作者吉昂先生。