原文由 水清鱼读月(loaferfdu) 发表:
前面那位仁兄说得对,PDXL目前确实是个比较小众的软件。Rigaku原来使用Jade软件,前几年不知道为啥——我猜是因为Jade的价格越来越贵(手动狗头)——Rigaku放弃了使用Jade并自己出了个软件,就是PDXL,所以你的问题,恐怕只有Rigaku的工程师才能回答了。
这里说一点我的看法仅供参考。
只修了Background和Scale factor,Rwp就变得这么小,很可能是因为你的图谱中背底太高了。因为Rwp和背底有关系。检查一下你用的靶材和样品中主含量的元素,比如Cu靶测试含有高Fe、Co的样品,那么荧光背底就会比较高。或者其他的什么原因导致背底过高。
Rietveld精修结果的好坏,不能单独看Rwp因子这些,主要是看误差线是否平直,结构模型是否合理。
PS:为啥要把S值修到1.5一下啊?这是谁提的要求?
PS:询问这类问题,最好附上你的原始数据。大家都不是神仙,对吧?
仪器是Cu靶,测试的材料为三元材料,所以含有钴,所以很大可能是荧光背底较高。原始数据有些不方便外传,见谅哈。
至于S值修到1.5以下我是看很多资料都有这样的描述,比如梁敬魁的;然后之前给我们培训的理学工程师也是这样讲的,不过培训比较简单,所以现在问题比较多