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主题：【求助】XRF中CCD用微区扫描玻璃样品可以直接测出玻璃缺陷中元素含量吗？

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奋楫者先
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发表于：2018/12/09 11:22:33 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XRF中CCD用微区扫描玻璃样品可以直接测出玻璃缺陷中元素含量吗？我们做了一系列的实验，效果不是很好，比如测硅灰石析晶缺陷，得不到硅和钙的比例
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2018/12/9 17:47:57 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
现在貌似各大厂商新款的WDXRF都有微区扫描功能，如果是老款，可能不支持吧
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sonne86400
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2018/12/20 15:02:42 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
玻璃穿透比较容易 xrf直接测估计比较难 建议用化学分析方法
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水清鱼读月
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2018/12/21 16:22:22 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
X光聚焦不易，不知道你所说的微区是多大的微区？mm尺度还是微米尺度？Si本身是轻元素，荧光产额低，要想测试微区内的Si，那就是难上加难。
微米尺度上，这样的需求建议考虑用“电子探针EPMA”来对应，这个仪器有点类似于SEM，但是它使用更大的激发电流，不是加EDS能谱探头来测试元素，而是采用WDXRF的分光光路来测试元素，无论是检出限还是元素谱峰的分辨率都碾压SEM-EDS。当然价格也比较感人就是了。
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