主题:【已应助】请问XRF荧光光谱仪的仪器检出限和方法检出限有什么区别?

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有没有大神可以帮忙解答一下XRF荧光光谱的仪器检出限和方法检出限的区别?谢谢大家
推荐答案:sdlzkw007回复于2023/03/03
仪器检出限水平是反应仪器设备灵敏度水平,方法检出限水平则是结合了仪器检出限和方法前处理表征的方法属性和操作过程的严谨。比如荧光的仪器检出限是0.05mg/kg;方法前处理样品1克混合压片制备成5克的样品片上机测试,结果是0.25mg/kg以上才能获得比较可靠的结果。反过来也是一样的,1克样品消解后定容到50毫升然后上机测试,结果是0.05*50/1=2.5mg/kg才能获得比较可靠的结果。
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sdlzkw007
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仪器检出限水平是反应仪器设备灵敏度水平,方法检出限水平则是结合了仪器检出限和方法前处理表征的方法属性和操作过程的严谨。比如荧光的仪器检出限是0.05mg/kg;方法前处理样品1克混合压片制备成5克的样品片上机测试,结果是0.25mg/kg以上才能获得比较可靠的结果。反过来也是一样的,1克样品消解后定容到50毫升然后上机测试,结果是0.05*50/1=2.5mg/kg才能获得比较可靠的结果。
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原文由 sdlzkw007(sdlzkw007) 发表:
仪器检出限水平是反应仪器设备灵敏度水平,方法检出限水平则是结合了仪器检出限和方法前处理表征的方法属性和操作过程的严谨。比如荧光的仪器检出限是0.05mg/kg;方法前处理样品1克混合压片制备成5克的样品片上机测试,结果是0.25mg/kg以上才能获得比较可靠的结果。反过来也是一样的,1克样品消解后定容到50毫升然后上机测试,结果是0.05*50/1=2.5mg/kg才能获得比较可靠的结果。
XRF荧光光谱的样品不需要前处理,还会收这些影响吗?
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原文由 sdlzkw007(sdlzkw007) 发表:
仪器检出限水平是反应仪器设备灵敏度水平,方法检出限水平则是结合了仪器检出限和方法前处理表征的方法属性和操作过程的严谨。比如荧光的仪器检出限是0.05mg/kg;方法前处理样品1克混合压片制备成5克的样品片上机测试,结果是0.25mg/kg以上才能获得比较可靠的结果。反过来也是一样的,1克样品消解后定容到50毫升然后上机测试,结果是0.05*50/1=2.5mg/kg才能获得比较可靠的结果。
那请问仪器公司给出的仪器检出限是会给一个总的检出限还是不同的元素给一个检出限?
p3287081
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oscar_2007
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1.每个元素都有不同的元素检出限值,
2.XRF荧光光谱的样品如果不需要进行前处理的话,样品直径大小,厚度也是有要求的,要获得比较可靠的结果,不同材质的样品有不同的方法检出限值。
拉菲
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原文由 oscar_2007(oscar_2007) 发表:
1.每个元素都有不同的元素检出限值,
2.XRF荧光光谱的样品如果不需要进行前处理的话,样品直径大小,厚度也是有要求的,要获得比较可靠的结果,不同材质的样品有不同的方法检出限值。
那请问仪器检出限仪器公司是怎么获得的?也就是说方法检出限在没有前处理的情况下,也是是不等于仪器检出限,那请问方法检出限怎么获得?如果能大概讲一下仪器检出限和方法检出限的获得方式,我可能会更清楚他们的区别,谢谢。
Ins_ca2e50c4
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原文由 p3287081(p3287081) 发表:
不同的元素会有不同的检出限
那请问仪器检出限是一个总的检出限吗?还是不同的元素也会有不同的仪器检出限?那不同材质会有不同的仪器检出限吗?
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