主题:【求助】请解答一下!谢谢!!

浏览0 回复11 电梯直达
refractories
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就具体的测试项目,根据你所学过的现代测试技术,说说有哪些现代测试方法可以测试?挑选最佳的测试方法(是否最精确、最快速、最经济等),并说明理由?

(1)尺寸小于5u的矿物的形貌观察分析;

(2)有机材料中化学键的分析鉴定;

(3)多晶材料的物相分析鉴定;

(4)矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定分析;

(5)晶体宏观应力的测定;

(6)镀膜的厚度测定;

(7)表面或界面元素化学状态分析;

(8)晶界上杂质的化学成分分析;

(9)晶界条纹或晶体缺陷(如位错、层错等)的观察分析;

(10)粉晶物相的定量分析;

(11)晶胞参数的测定和固溶体含量测定;

(12)晶界杂质的物相分析鉴定;
推荐答案:一土回复于2009/03/17
XRF
X射线荧光分析仪
补充答案:

hutian02回复于2009/03/18

你可以查下文献,好像X荧光光谱仪与衍射仪可以做到。
很多很好的应用文献可以找到。

逆水寒回复于2009/04/05

3 5 6 10 11可以用XRD解决

UPS电源解决方案回复于2009/03/17

俺不懂,等待高人解答。

追风男儿回复于2009/03/17

帖子发在测试版得到的答案会更多些

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你可以查下文献,好像X荧光光谱仪与衍射仪可以做到。
很多很好的应用文献可以找到。
sartre
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(1)尺寸小于5u的矿物的形貌观察分析;——电子显微镜

(2)有机材料中化学键的分析鉴定;——傅立叶红外,傅立叶拉曼

(3)多晶材料的物相分析鉴定;——多晶XRD

(4)矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定分析;——这个不知道,关键是你怎么取样

(5)晶体宏观应力的测定;——万能测试机

(6)镀膜的厚度测定;——EDXRF

(7)表面或界面元素化学状态分析;——没明白啥意思

(8)晶界上杂质的化学成分分析;——这个不知道

(9)晶界条纹或晶体缺陷(如位错、层错等)的观察分析;——XRD或透射电子显微镜

(10)粉晶物相的定量分析;——XRD或透射电子显微镜

(11)晶胞参数的测定和固溶体含量测定;——XRD或透射电子显微镜

(12)晶界杂质的物相分析鉴定;——这个不知道


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就具体的测试项目,根据你所学过的现代测试技术,说说有哪些现代测试方法可以测试?挑选最佳的测试方法(是否最精确、最快速、最经济等),并说明理由?

(1)尺寸小于5u的矿物的形貌观察分析;

(2)有机材料中化学键的分析鉴定;

(3)多晶材料的物相分析鉴定;

(4)矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定分析;

(5)晶体宏观应力的测定;

(6)镀膜的厚度测定;

(7)表面或界面元素化学状态分析;

(8)晶界上杂质的化学成分分析;

(9)晶界条纹或晶体缺陷(如位错、层错等)的观察分析;

(10)粉晶物相的定量分析;

(11)晶胞参数的测定和固溶体含量测定;

(12)晶界杂质的物相分析鉴定;
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原文由 refractories 发表:

就具体的测试项目,根据你所学过的现代测试技术,说说有哪些现代测试方法可以测试?挑选最佳的测试方法(是否最精确、最快速、最经济等),并说明理由?

(1)尺寸小于5u的矿物的形貌观察分析;---EPMA

(2)有机材料中化学键的分析鉴定;---傅立叶红外,傅立叶拉曼

(3)多晶材料的物相分析鉴定;---XRD

(4)矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定分析;--XRD解决一部分

(5)晶体宏观应力的测定;---XRD  X射线应力仪

(6)镀膜的厚度测定;---WDXRF

(7)表面或界面元素化学状态分析;XPS

(8)晶界上杂质的化学成分分析;XPS

(9)晶界条纹或晶体缺陷(如位错、层错等)的观察分析;XRD

(10)粉晶物相的定量分析;XRD

(11)晶胞参数的测定和固溶体含量测定;XRD以及XRF

(12)晶界杂质的物相分析鉴定;XRD
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