主题:【求助】背散射模式观察晶界衬度问题

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bigbelly
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我用背散射模式拍的照片如图,但是不知道衬度产生的原理是什么,哪位能帮忙解释一下,谢谢。还有,为什么图的右侧总比左侧亮?
(试样为工业纯铝电解抛光)
SEM照片
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huangtao0307
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像的衬度就是像的各部分(即各像元)强度相对于其平均强度的变化。
bigbelly
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bigbelly
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jzhx68
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原文由 bigbelly 发表:
我用背散射模式拍的照片如图,但是不知道衬度产生的原理是什么,哪位能帮忙解释一下,谢谢。还有,为什么图的右侧总比左侧亮?
(试样为工业纯铝电解抛光)
SEM照片


是否是样品没有放平。由于背散射电子在样品室中不象二次电子是直线运动的,所以要磨平放平整。可以试一下。
bigbelly
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我的照相技术实在有限,刺眼我也不知道怎么回事。
但是这是扫描电镜,又不是透射,怎么不同的晶粒有不一样的衬度呢?
golf
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背散射像也能反应出一定的取向信息吧 亮度不一样是不是就是取向的差别呢?
bigbelly
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kevear
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亮度不一样是由取向的差别造成的。背散射电子主要有两种衬度:原子序数衬度以及取向衬度,而对形貌不太敏感。前者主要反映原子序数的差别,后者主要显示取向的差别。你这张照片既然是工业纯铝,那么基体应该是比较纯的单一相,原子序数的影响较小,因此主要反映的就是各晶粒取向的差别。至于右边部过量,可能是由于倍数太小,而背散射探头位置不正造成的。
jeolzxj
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