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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【讨论】大家用荧光测F都是用些什么条件呀，准不准呀？

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蓝侧卫
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发表于：2009/05/01 00:01:18 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我们的机（ARL9900）用30KV,80MA,计数1min，测连铸渣建F的检量线，测出来十分的差，不知大家有没有好的见解



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2009/5/1 7:01:10 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
30KV 80mA测F应该可以了呀。
对轻元素来说，你的样品的制备情况就显得更加重要了。
你的样品是金属固体，表面的平滑度对轻元素的影响也很大，像F，C这种轻元素，它们的强度都是在样品表面测得的。
因此建议你能把样品处理的更好点。
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蓝侧卫
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2009/5/3 12:27:04 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ljzllj 发表:
30KV 80mA测F应该可以了呀。
对轻元素来说，你的样品的制备情况就显得更加重要了。
你的样品是金属固体，表面的平滑度对轻元素的影响也很大，像F，C这种轻元素，它们的强度都是在样品表面测得的。
因此建议你能把样品处理的更好点。


你们测F条件大概怎么设，样品是处理要很小心吗？
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Last edit by zghkmj
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2009/5/3 19:36:41 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zghkmj 发表:
原文由 ljzllj 发表:
30KV 80mA测F应该可以了呀。
对轻元素来说，你的样品的制备情况就显得更加重要了。
你的样品是金属固体，表面的平滑度对轻元素的影响也很大，像F，C这种轻元素，它们的强度都是在样品表面测得的。
因此建议你能把样品处理的更好点。


你们测F条件大概怎么设，样品是处理要很小心吗？

可以参考下UniQuant里的条件呀，30KV，80mA可以了
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ayaku
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2009/5/3 22:47:32 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
应该是用的熔片制样法吧,F的测量强度太低了,是造成误差大的原因。若用熔片法，应尽可能的选用较低的温度、熔融时间及稀释比，用较大的激发电流来测量。
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蓝侧卫
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2009/5/13 22:46:24 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ayaku 发表:
应该是用的熔片制样法吧,F的测量强度太低了,是造成误差大的原因。若用熔片法，应尽可能的选用较低的温度、熔融时间及稀释比，用较大的激发电流来测量。


温度的高低对F的熔片有影响吗？ F会被挥发吗？
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ayaku
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2009/5/15 23:29:48 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
熔融过程是复杂的,机理很难说清楚。F的挥发问题争议是很大的。卤族元素不熔于硼酸盐，对分析表面来说，制样要求还是很高的。
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