主题:【原创】【第二届网络原创大赛作品】高频熔融离心浇铸开发历程

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alexright
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该帖子已被chemistryren设置为精华;
时间跨度 2004~2009,原文成于2006年,斜体字(见附件)为最近加入。

根据一段时间以来的试验,对铬铁的熔融分析有一些心得,实际上还不能叫做心得,只是有一些的想法,现在将这些想法小结一下。
总的来说,铬铁的熔融是可以进行的。
从上海宝钢技术中心发表的文章看,是有几个疑问的:
第一、对坩埚的材质没有进行说明。很显然,材质的影响是首要的,正如试样的前处理一样,如果有外来的污染,结果显然是不正确的。根据后来的分析,他们可能采取的解决方案有几种:1、所注明的陶瓷坩埚,当然也包括了铝质的坩埚,可能也有其它材质的坩埚。也就是说没有采用目前的这种坩埚。2、很浪费的一种做法,每个坩埚限定次数使用,内涂的保护层被破坏了,就可以不再使用。他们虽然有钱,但也不至于这么做。3、找到一个平衡点,不会损坏坩埚的内涂层。而按照他们报告上的参数进行试验,目前还不能做到的。
注:1、写文章可以不写的这么清楚,不过最近发表的几篇相关的文章,比如铌铁、锰铁等,都对坩埚进行了说明,看来我的观点还有有些前瞻的。2、内涂保护层是Zr质的,在抽真空的情况下会更好一些,特别适合于纯镍的使用。对于铬铁熔融,也可重复使用。
第二、熔融时间是固定值。显然,根据客观的条件,包括仪器的设备的精度,磁感应的原理,我们可以说环境条件本身就有变化的因素存在,熔融的时间就不能完全固定。应该是一个范围。在一个时间段内允许,这个需要有一定的经验。
注:这个可能是写文章时的限制。可以允许在小范围的时间内波动;但对分析C、S有较大影响。
第三、对于抛光面的处理。报告中按照一般的试样处理,用砂带纸进行抛光,其中均匀性检验的数据是用直读光谱的值,试样表面光洁度对直读光谱的测量结果有多大影响,我们不得而知,从结果看,用直读检验均匀性是有优势的。x射线荧光光谱受到表面光洁度的影响要大很多。而从我们试验的情况看,砂带纸和砂轮片抛光的影响都存在(在x荧光上)。
注:采用自动的方法抛光表面更好,如铣床,砂杯机(其砂轮粒度比砂轮片要一致的多)等。
以上是对报告中的一些参数数据没有确定的地方,也许采用一些比较特殊的手段,可能也超出了我的见识,而且没有在文章中写出来,这里我也不想再继续讨论。
我想谈一下我的实验过程。
在最初,我们是试验了用纯铁丝来进行熔融,现在在我看来是很大的一个失误,因为这导致了我们走了很多的弯路,做了很多无用功。
一、 不能准确称量。那么大的颗粒,要定量,实在是太困难了。
二、 同样是那么大的颗粒,而熔质是粉末状的,显然很大的一部分试样要从缝隙中调(掉)到底部,根据熔融的原理,这实在不是个好办法;对均匀性影响也很大;同时对时间也不能控制,即使在一定的范围内也无法控制。后来不得不考虑压片之后再捣碎,以使两者能“混匀”。(如果要如此复杂的制样,还不如磨样来的快。)
注:粉末压片的结果对于P还比较稳定,Si是最不稳定的元素,特别是对于不同厂家的样品。
三、 由于对时间不能控制,同时Si的数据不好,想当然的认为是由于坩埚的影响,又想办法试图用石墨坩埚内衬来解决,甚至在比例方面作了太多的复杂的工作,都以失败告终。
我们不得不重新回到原点。目前唯一能确定的是比例,而比例显然也没有经过试验。与宝钢的比例(8:1)相比,我们采用的足足少了一半,当时的想法也简单,既然4:1能够熔融成型,那么为什么不节约一些纯铁呢?
接着是出现了一个问题,功率太大。当时没有意识到这个问题。认为功率越大,时间越短,坩埚中的Si应该影响更小。实际的情况是,功率越高,坩埚的寿命越短,而从结果上反映出来的是,Si的稳定性反而不好。在参考了宝钢报告中的参数后,调小了功率,但是,没有进一步的进行试验,将功率调到最小,看能否将样品熔融。
在接下来的一段时间里,都没有什么进展,初步确定能够进行实验,但Si的数据始终不是很好。
然后,又用熔融机熔融通用镍,出现的情况是坩埚能够反复的使用,其现象是,在坩埚的内部形成了一层膜,可以预见是不是这层膜的保护,使坩埚不会继续被侵蚀。(现在熔融通用镍的情况更好)那么,铬铁会不会也有这种情况呢?如果有,那么Si的问题就迎刃而解了。但是这项工作放下了很长一段时间。
注:这里并不是一层膜,而是高温灼烧的痕迹。

【第二届网络原创大赛作品】高频熔融离心浇铸开发历程

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alexright
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接上文

似乎很长时间没有做这个工作了。接下来再提起的时候,又提出了新的要求:必须马上就要能够做试样。(也就是能应用于实际生产,而不是研究室里使用)这个时候基本上一些条件都已经默认了下来。
比例                  力矩      冷却时间 保护气流量    熔融时间
4:1(32g:8g) 最大      3s              200L/h      70s~85s
这也是结合了在锰铁试验中的经验得来的。
后面的一些工作就是围绕Cr的准确性来进行的。这个时候主要考虑到的就是光洁度对试样测量的影响。不得已作了2条线,2条线的Cr值相差大约为0.6,这样做的唯一目的就是希望能够根据光洁度来选择不同的曲线。如果要真正靠眼睛来判断选择哪条曲线,是有很大的偏差的,尤其是在更换了砂轮片之后更加的明显。曾经试图将2条线分别测量,然后平均,这也是一个没有办法的办法。但是,如果要真正的平均,那也要选择最粗的表面和最细的表面,而两者的差值相差可能达到2%,所以来说,更加的不可实施。现在唯一能做的是,依靠控制样品。不同的范围选择不同含量的控制样品。
注:这里说明了2个时钟理论——也就是2个时钟永远确定不了正确的时间。依靠化学比对是一个非常好的途径。
同时,这个阶段中,也对硅的结果进行了比对。只比对过一次,较国家标准的允许差还有一定差距,但是,同研磨试样相比,有了一些改进,但是不是很明显。也因为一直对坩埚的影响不能定量,甚至是不能确定的,主要的原因有:
一、标准曲线本身就有问题。标准曲线的制作是利用二次坩埚熔融的,当然这样做是为了与平常试样保持一致性,因为考虑到平时的试样肯定不可能是都有新的坩埚,所以如此制作了工作曲线。但同时又由于一些标准样品的粒度太细(是原来已经研磨过),又采用的新坩埚,导致这条曲线是不伦不类。最后采取的方案是放弃后来新坩埚的点。目前的情况,硅的低端的点还不能确定。做过的一组数据如下:
采用同一个旧坩埚、同一试样熔融,1、2、3连续熔融,4和5连续熔融
1      2      3      4      5
0.62  0.64  0.62  0.66      0.63
化学值为0.75,注意,这个值可以校正到化学值。这也说明了低端值不能确定。
注:低含量确实不好分析,现在问题不大。和助熔剂的纯度有关,也和标准值有关。上面这个问题主要是采用了不同批次的熔剂导致的偏差,同时与工作曲线的低端绘制有关。
二、试样本身的问题。曾经分析过含镍碳铬,其中熔融的硅值就和磨样的结果差很远,一个为0.9,一个为0.3,想当然的认为是由于坩埚的影响导致了结果偏高。实际情况是化学值结果也是0.9。那这个问题是怎么产生的呢?这也许只能归结到试样本身(不一定是由于镍的原因,毕竟镍的含量也不高)。同时,这样的一些试样,表现为在熔融时,熔融液表面覆盖着一层不溶物,猜想为炉渣类物质。但一直没有定性,也谈不上定量了。为什么一些有,一些没有,那是和试样本身有关了。也与空气的排出有关。
最后,把P也说一下。P的结果一直比较稳定,准确度也高。没有问题。
注:虽然空白(也就是纯铁助熔剂)中的P一般都是0.005%左右,不排除有更低的,只是相对来说,成本也更gao。这里只要求不影响分析结果就ok了。硅分析的问题,容易受纯铁好坏的影响。
关于微碳、中碳铬铁的测定。做过这方面的试验,
一、将微碳标样熔融,做入曲线中,但不能成线性。可能是由于碳的影响。与此相同的是,宝钢的实验也只是就高碳铬铁而言,而且,其Cr标准曲线范围明显要小于我们目前的试样中Cr的范围。
注:后期见过一篇会议论文,是将三类铬铁分别制作工作曲线进行分析测定。
将高铬标准样品(钢样)以相同条件熔融后测定,结果不能满意。
二、试图将C作为输入含量进行校正,校正的结果基本没有改变,不适用。
可见,对于微碳、中碳铬铁的测定,还是需要相同种类的样品做标准曲线,然后分析。
注:这是错误的说法,实际上碳的校正非常有用。而且现在很多XRF能够测量C元素,在这个类型的样品中也可分析C、S含量,(S含量偏低较普遍)。采用分析的碳进行校正,可以测定微铬和中铬。
现在,对一些制样上需要注意的方面总结如下:
1、 对新砂轮片的使用要谨慎。
2、 熔融出现时间、状态上的异常,时刻关注。
3、 防止试样表面污染。
4、助熔剂的纯度。
总的来说,离心浇铸熔融这种方式是一种非常环保的分析方法,是冶金行业中铁合金和钢铁分析的一种有效制样手段,现在也越来越受到大家的重视。

参考文献-离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中铬、硅、磷
蓝侧卫
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hsteel
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楼主工作思路很值得借鉴,我也读过一些熔融浇铸的制样方式,这种方式和熔融制取玻璃片,那个更有优势,铁合金类样品如果处理得当应该可以熔成玻璃片的,步骤并不繁琐,成本也不高。
shaweinan
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原文由 alexright 发表:
  第一、对坩埚的材质没有进行说明。很显然,材质的影响是首要的,正如试样的前处理一样,如果有外来的污染,结果显然是不正确的。根据后来的分析,他们可能采取的解决方案有几种:1、所注明的陶瓷坩埚,当然也包括了铝质的坩埚,可能也有其它材质的坩埚。也就是说没有采用目前的这种坩埚。


  既然是“所注明的陶瓷坩埚,当然也包括了铝质的坩埚,可能也有其它材质的坩埚。”那还要对坩埚的材质进行什么样的说明?“没有采用目前的这种坩埚”中目前的这种坩埚又是什么坩埚?

原文由 alexright 发表:
  第二、熔融时间是固定值。显然,根据客观的条件,包括仪器设备的精度,磁感应的原理,我们可以说环境条件本身就有变化的因素存在,熔融的时间就不能完全固定。应该是一个范围。在一个时间段内允许,这个需要有一定的经验。
  注:这个可能是写文章时的限制。可以允许在小范围的时间内波动;但对分析C、S有较大影响。


  很多的实验都有环境变化的问题,因为这种变化是没有什么规律可遵循的,所以很难通过人为的主观意识来控制,同样也就不容易通过时间来进行人为地调整。时间对分析C、S有较大影响这也不难理解,你的试验不是在真空条件下做的吧,因为空气中存在C和S的氧化物气体,所以会产生比较大的影响。
shaweinan
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原文由 alexright 发表:
  在最初,我们是试验了用纯铁丝来进行熔融,现在,在我看来是很大的一个失误,因为这导致了我们走了很多的弯路,做了很多无用功。
 一、不能准确称量。那么大的颗粒,要定量,实在是太困难了。
 二、同样是那么大的颗粒,而熔质是粉末状的,显然很大的一部分试样要从缝隙中掉到底部,根据熔融的原理,这实在不是个好办法;对均匀性影响也很大;同时对时间也不能控制,即使在一定的范围内也无法控制。后来不得不考虑压片之后再捣碎,以使两者能“混匀”。(如果要如此复杂的制样,还不如磨样来的快。)
  注:粉末压片的结果对于P还比较稳定,Si是最不稳定的元素,特别是对于不同厂家的样品。
 三、由于对时间不能控制,同时Si的数据不好,想当然的认为是由于坩埚的影响,又想办法试图用石墨坩埚内衬来解决,甚至在比例方面作了太多的复杂的工作,都以失败告终。


  在第一点中,“不能准确称量”应该是指不能准确称取到某一事先希望的数值吧?在第二点中说“Si是最不稳定的元素”,如果容器是用坩埚那显然Si的数据不会好,特别是在没有对坩埚内表面进行任何处理的情况下。
shaweinan
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原文由 alexright 发表:
  我们不得不重新回到原点。目前唯一能确定的是比例,而比例显然也没有经过试验。与宝钢的比例(8:1)相比,我们采用的足足少了一半,当时的想法也简单,既然4:1能够熔融成型,那么为什么不节约一些纯铁呢?
  接着是出现了一个问题,功率太大。当时没有意识到这个问题。认为功率越大,时间越短,坩埚中的Si应该影响更小。实际的情况是,功率越高,坩埚的寿命越短,而从结果上反映出来的是,Si的稳定性反而不好。在参考了宝钢报告中的参数后,调小了功率,但是,没有进一步的进行试验,将功率调到最小,看能否将样品熔融。
  在接下来的一段时间里,都没有什么进展,初步确定能够进行实验,但Si的数据始终不是很好。
  然后,又用熔融机熔融通用镍,出现的情况是坩埚能够反复的使用,其现象是,在坩埚的内部形成了一层膜,可以预见是不是这层膜的保护,使坩埚不会继续被侵蚀。(现在熔融通用镍的情况更好)那么,铬铁会不会也有这种情况呢?如果有,那么Si的问题就迎刃而解了。但是这项工作放下了很长一段时间。
  注:这里并不是一层膜,而是高温灼烧的痕迹。


  用的功率越大是不是温度就会越高,如果温度越高那用坩埚作容器自然是Si的影响就越大了。
  既然熔融通用镍可以在坩埚内表面形成了一层保护膜,那你为什么不去常识一下铬铁呢?如果不是一层膜,而是高温灼烧的结果,那你为什么不先将坩埚在高温下灼烧一下呢?
shaweinan
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  后面的一些工作就是围绕Cr的准确性来进行的。这个时候主要考虑到的就是光洁度对试样测量的影响。不得已作了2条线,2条线的Cr值相差大约为0.6,这样做的唯一目的就是希望能够根据光洁度来选择不同的曲线。如果要真正靠眼睛来判断选择哪条曲线,是有很大的偏差的,尤其是在更换了砂轮片之后更加的明显。曾经试图将2条线分别测量,然后平均,这也是一个没有办法的办法。但是,如果要真正的平均,那也要选择最粗的表面和最细的表面,而两者的差值相差可能达到2%,所以来说,更加的不可实施。现在唯一能做的是,依靠控制样品。不同的范围选择不同含量的控制样品。


  “2条线的Cr值相差大约为0.6”,这个数值的单位是什么?2条线的Cr值分别是多少?“将2条线分别测量,然后平均”“选择最粗的表面和最细的表面,而两者的差值相差可能达到2%”那你的x荧光分析的精密度是多少?
shaweinan
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原文由 alexright 发表:
  同时,这个阶段中,也对硅的结果进行了比对。只比对过一次,较国家标准的允许误差还有一定差距,但是,同研磨试样相比,有了一些改进,但是不是很明显。也因为一直对坩埚的影响不能定量,甚至是不能确定的,主要的原因有:
 一、标准曲线本身就有问题。标准曲线的制作是利用二次坩埚熔融的,当然这样做是为了与平常试样保持一致性,因为考虑到平时的试样肯定不可能是都有新的坩埚,所以如此制作了工作曲线。但同时又由于一些标准样品的粒度太细(是原来已经研磨过),又采用的新坩埚,导致这条曲线是不伦不类。最后采取的方案是放弃后来新坩埚的点。目前的情况,硅的低端的点还不能确定。做过的一组数据如下:
采用同一个旧坩埚、同一试样熔融,1、2、3连续熔融,4和5连续熔融
   1  2  3  4  5
  0.62 0.64 0.62 0.66 0.63
  化学值为0.75,注意,这个值可以校正到化学值。这也说明了低端值不能确定。
  注:低含量确实不好分析,现在问题不大。和助熔剂的纯度有关,也和标准值有关。上面这个问题主要是采用了不同批次的熔剂导致的偏差,同时与工作曲线的低端绘制有关。


  这样的分析结果明显是存在系统误差,应找明原因。你在注释中说“和标准值有关”莫非说标准值有问题?你接着还说“与工作曲线的低端绘制有关”,难道是分析校正曲线低浓度部分偏离了线性向上弯曲了?你的分析校正曲线拟合的相关系数是多少?
shaweinan
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 二、试样本身的问题。曾经分析过含镍碳铬,其中熔融的硅值就和磨样的结果差很远,一个为0.9,一个为0.3,想当然的认为是由于坩埚的影响导致了结果偏高。实际情况是化学值结果也是0.9。那这个问题是怎么产生的呢?这也许只能归结到试样本身(不一定是由于镍的原因,毕竟镍的含量也不高)。同时,这样的一些试样,表现为在熔融时,熔融液表面覆盖着一层不溶物,猜想为炉渣类物质。但一直没有定性,也谈不上定量了。为什么一些有,一些没有,那是和试样本身有关了。也与空气的排出有关。


  有没有考察一下样品的均匀性?
alexright
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原文由 alexright 发表:
   既然是“所注明的陶瓷坩埚,当然也包括了铝质的坩埚,可能也有其它材质的坩埚。”那还要对坩埚的材质进行什么样的说明?“没有采用目前的这种坩埚”中目前的这种坩埚又是什么坩埚?
这里没有说清楚,因为之前对坩埚的种类没有调查,同时由于其内部有Zr质涂层。在最初的几次熔融中,不会破坏涂层。//目前使用的坩埚是硅铝质。

原文由 alexright 发表:
  第二、熔融时间是固定值。显然,根据客观的条件,包括仪器设备的精度,磁感应的原理,我们可以说环境条件本身就有变化的因素存在,熔融的时间就不能完全固定。应该是一个范围。在一个时间段内允许,这个需要有一定的经验。
  注:这个可能是写文章时的限制。可以允许在小范围的时间内波动;但对分析C、S有较大影响。


  很多的实验都有环境变化的问题,因为这种变化是没有什么规律可遵循的,所以很难通过人为的主观意识来控制,同样也就不容易通过时间来进行认为地调整。时间对分析C、S有较大影响这也不难理解,你的试验不是在真空条件下做的吧,因为空气中存在C和S的氧化物气体,所以会产生比较大的影响。

这里我是对时间的叙述,来说明写文章时可能是要有明确的表述,所以用一个点的时间来代替了一段时间;在试验中应该是一段时间的描述更好,同时也不会影响。
你的意思是空气中存在氧气,所以C、S变化较大。实验中有较大影响,并且可以得到规律性的东西。
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