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主题：请问X射线荧光光谱仪对薄膜和多层膜分析的基本参数方法原理及数学模型是什么？

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yuanbo
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发表于：2005/03/05 16:50:20 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请问X射线荧光光谱仪对薄膜和多层膜分析的基本参数方法原理及数学模型是什么？
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2005/3/5 19:43:40 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
参阅下面有关新书：<br>
《X射线荧光光谱分析》吉昂，陶光仪，卓尚军，罗立强编著， 科学出版社  2003年<br>
其中第十章 薄膜和多层膜分析 <br>
10·1 薄试样和厚试样 <br>
10·2 单层和多层膜的荧光强度计算 等等<br>
访问下面网站可联系购买此书。http://www.sciencep.com/gb/node/2004-07/29/node_51.htm，或打电话010-64034142，
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