主题:薄膜分析的基本参数法的原理及数学公式

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yuanbo
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薄膜分析的基本参数法的原理及数学公式
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amihu
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参阅下面有关新书:<br>
《X射线荧光光谱分析》吉昂,陶光仪,卓尚军,罗立强编著, 科学出版社  2003年<br>
其中第十章 薄膜和多层膜分析 <br>
10·1 薄试样和厚试样 <br>
10·2 单层和多层膜的荧光强度计算 等<br>
<br>
 
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