主题：【求助】请问TMA哪家做的好些啊?

原文由 crystalsnake(crystalsnake) 发表:
LZ要用到多少度呢
高温的话，Setaram的也不错

http://www.instrument.com.cn/netshow/SH101322/C58153.htm

原文由 人来人往(free365) 发表:

原文由 stillstone(stillstone) 发表:
.... 常规应用肯定是都够了，基本架构都类似的，区别在细节。 
向TA的ＬＶＤＴ分辨率１５ｎｍ，对１ｍｍ的环氧树脂在１００度区间内
，假设膨胀系数为１００ｐｐｍ／Ｋ精度能到标称的０．１％．
但对膨胀系数１０ｐｐｍ／ｋ的材料就只有１％，膨胀系数１ｐｐｍ的
材料就只有０．１，所以他能测得准的膨胀系数最低是１ｐｐｍ．　
这对ＰＣＢ显然够用，但对低膨胀材料就不够了。
....

对这段没大看懂。

建议楼主带上两三个典型样品到各仪器用户那去做测试，根据现场实验来判定。

对于所提供的指标，要跟供应商确定是否可通过实验验证。如果不能实际实验验证，这些指标不看也罢。

原文由 stillstone(stillstone) 发表:

原文由 人来人往(free365) 发表:

原文由 stillstone(stillstone) 发表:
.... 常规应用肯定是都够了，基本架构都类似的，区别在细节。 
向TA的ＬＶＤＴ分辨率１５ｎｍ，对１ｍｍ的环氧树脂在１００度区间内
，假设膨胀系数为１００ｐｐｍ／Ｋ精度能到标称的０．１％．
但对膨胀系数１０ｐｐｍ／ｋ的材料就只有１％，膨胀系数１ｐｐｍ的
材料就只有０．１，所以他能测得准的膨胀系数最低是１ｐｐｍ．　
这对ＰＣＢ显然够用，但对低膨胀材料就不够了。
....

对这段没大看懂。

建议楼主带上两三个典型样品到各仪器用户那去做测试，根据现场实验来判定。

对于所提供的指标，要跟供应商确定是否可通过实验验证。如果不能实际实验验证，这些指标不看也罢。

对膨胀系数100PPm/K的1mm树脂来讲， 100度内热膨胀总量为0.001*100ppm*100=10um
仪器测量精度是15nm时， 测量长度变化的误差就是15nm/10um=0.0015=0.15%
如果测量物质膨胀系数是1ppm, 误差就有15%，所以低膨胀系数物质用TMA测试是不可取的，
假如用耐驰的DIL， 灵敏度1.25nm,样品长25mm, 同样膨胀系数1ppm的样品，长度变化的误差就是1.25nm/(0.025*1ppm*100)=0.05%

不过这里测得是PCB，所以没关系了。