主题:【求助】请教如何用AFM测杨氏模量

浏览0 回复7 电梯直达
qiar
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初做力学性能测量,仪器是VEECO nanoscope IV, Multimode.想测纳米线的力学性质,看到manual上写着可以采用force modulation和nanoidentation的方式去测,文献上则采用identation的方式比较多,现有几个问题请教:
1) 请问用identation的话是否必须用金刚石针,因纳米线较软,硅探针不知是否可以?
2) 用identation测量薄膜的性质时是增加压力直到有压痕出现,但是纳米线如果有压痕不是很容易断吗?不知针对纳米线应该如何操作?
3) 按照杨氏模量的公式,是得到力和形变量的值即可算出,不知用AFM测的时候具体应该得到哪些信息?

请大家多多指教,谢谢大家了!
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qiar
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leaflet
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测纳米线Young's模量的话应该是三点弯曲的方式吧,不是出现压痕,也就是把线悬空搭在一个沟槽上用针尖去压
carne52
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楼上说的是对的,我做纳米纤维的杨氏弹性模量的时候用的是三点压弯测试技术,测力-距离曲线。

nanoindentation也有试用过,测得的结果有很大的差别。

不是很清楚两者测试的力学性能有什么本质意义上的区别。
sciencemaji
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三点弯曲测模量是朱静院士一直专注的问题,建议你去查些朱静院士的工作。用纳米压痕做也可以,是根据Oliver-Pharr方法,需要知道力曲线和针尖参数,你可以去查下Oliver和Pharr的文章。
quyanliang
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leijingyatou
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chenga
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