主题:【求助】求教XRF可否用于定量SiO2,多谢!

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cochrt
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求教各位专家,是否通过XRF可以测出样品(SiO2纯度在95%以上的固体粉末)中的SiO2含量呢?多谢!
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hsteel
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这种样品是完全可以用XRF实现的,选择一组合适的标样,压片也行,熔融法也行,熔融法准确度更高一点,并且在标样的选取上也更灵活一点。
cochrt
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这种样品是完全可以用XRF实现的,选择一组合适的标样,压片也行,熔融法也行,熔融法准确度更高一点,并且在标样的选取上也更灵活一点。


谢谢您的指教!请问误差会有多大呢?
hsteel
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采用熔融法制样,以本人使用XRF和做硅石的经验,完全可控制在国标允许的误差范围内,不知你的误差要求是多少?
babala263
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jinglebell1983
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tyrantgqy
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95%+的石头,精度要求+-0.1% 有难度阿 理论上含量越高,仪器的误差也会放大。0.5%+-能接受哇?
    不知道其他人怎么觉得的。
alexli77
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金水楼台先得月
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原文由 alexli77(alexli77) 发表:
同意楼上的观点,0.1%有难度

你一般能做到多少?
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2011/5/6 13:14:50 Last edit by albert800922
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这种样品是完全可以用XRF实现的,选择一组合适的标样,压片也行,熔融法也行,熔融法准确度更高一点,并且在标样的选取上也更灵活一点。


谢谢您的指教!请问误差会有多大呢?


压片法肯定误差比较大。最好用熔片法,而且熔片前要确保样品颗粒足够细!!!
金水楼台先得月
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这种样品是完全可以用XRF实现的,选择一组合适的标样,压片也行,熔融法也行,熔融法准确度更高一点,并且在标样的选取上也更灵活一点。


谢谢您的指教!请问误差会有多大呢?


压片法肯定误差比较大。最好用熔片法,而且熔片前要确保样品颗粒足够细!!!

压片法做这么高的含量的Si,应该容易超差的,粒度200目够了吧
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