主题：【讨论】ICP-OES 的仪器的终极目标？我们的目标？

原文由 fragr(fragr) 发表:
诚然，没有任何仪器可以做到完美。

ICP-OES仪器的终极目标是什么？

1、全谱数据的采集？
2、高检出能力？低信号噪声，低光学噪声，低电子噪声？
3、数据重现性？长时间使用下？
4、仪器维护简单？
5、特殊样品的适应能力？
6、多谱线自动识别？
7、测试速度快？

请各位大侠赐教！谢谢

原文由 liyongdeng(liyongdeng) 发表:
我理解终极目标是:通过测试达到了解产品一些信息,对产品进行追踪管控.确保产品优质,环保.

原文由 kinkioo613(kinkioo613) 发表:
个人感觉全谱数据的采集不是目的，只是一个手段，要根据测量对象，测量目的来看全谱是否必要。
至于高检出能力、低噪声这些都不是ICP-OES的目标，是MS的领域，在检出能力方面MS比OES做的好得多，至于MS的价格以后必然会降下来。

我觉得OES今后的方向应该是简单使用、简单维护、尽可能的降低样品制备时间。另外能够快速通用的使用去干扰、谱线识别功能。

原文由 fragr(fragr) 发表:
诚然，没有任何仪器可以做到完美。

ICP-OES仪器的终极目标是什么？

1、全谱数据的采集？
2、高检出能力？低信号噪声，低光学噪声，低电子噪声？
3、数据重现性？长时间使用下？
4、仪器维护简单？
5、特殊样品的适应能力？
6、多谱线自动识别？
7、测试速度快？

请各位大侠赐教！谢谢

原文由 fragr(fragr) 发表:
诚然，没有任何仪器可以做到完美。

ICP-OES仪器的终极目标是什么？

1、全谱数据的采集？
2、高检出能力？低信号噪声，低光学噪声，低电子噪声？
3、数据重现性？长时间使用下？
4、仪器维护简单？
5、特殊样品的适应能力？
6、多谱线自动识别？
7、测试速度快？

请各位大侠赐教！谢谢

原文由 Field_Tian(MWSpecialist) 发表:

原文由 fragr(fragr) 发表:
诚然，没有任何仪器可以做到完美。

ICP-OES仪器的终极目标是什么？

1、全谱数据的采集？
2、高检出能力？低信号噪声，低光学噪声，低电子噪声？
3、数据重现性？长时间使用下？
4、仪器维护简单？
5、特殊样品的适应能力？
6、多谱线自动识别？
7、测试速度快？

请各位大侠赐教！谢谢

1、全谱数据的采集？随着半导体技术的发展容易做到
2、高检出能力？低信号噪声，低光学噪声，低电子噪声？这也是依赖于半导体技术和计算技术，会不断提高
3、数据重现性？长时间使用下？这个现在有的仪器已经能达到
4、仪器维护简单？会不断实现，有个别厂家的已经比较简单啦
5、特殊样品的适应能力？这个很难实现
6、多谱线自动识别？这需要大量的数据运算，不过没有太大实用价值
7、测试速度快？多快呢？现在已经比较快啦
8、加一条：超高的分辨率，使得光谱干扰大大降低。这可以弥补四级杆质谱在一些复杂样品分析中的不足。
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说的好啊，要是能不用前处理，什么形式的样品都能进样就更好了阿

原文由 kinkioo613(kinkioo613) 发表:
　　个人感觉全谱数据的采集不是目的，只是一个手段，要根据测量对象、测量目的来看全谱是否必要。
　　至于高检出能力、低噪声这些都不是ICP-OES的目标，是MS的领域，在检出能力方面MS比OES做的好得多，至于MS的价格以后必然会降下来。
　　我觉得OES今后的方向应该是简单使用、简单维护、尽可能的降低样品制备时间。另外能够快速通用的使用去干扰、谱线识别功能。

原文由 liyongdeng(liyongdeng) 发表:
　　我理解终极目标是：通过测试达到了解产品一些信息，对产品进行追踪管控，确保产品优质、环保。