主题:【求助】【原创】新型飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS)简介

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yuduoling
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xyz4718
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原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
原文由 凡心点点(alvinyang32) 发表:
好资料,学习下!大概多少价格啊

价格不了解,肯定很贵阿!!

不知道谁知道tof-sims一般价格阿??


做一个样一般要1500-2000元左右
光哥
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TOF的貌似不合适做深度分析吧?据了解,这个东西一般都是用在表面方面的分析。
成像和深度的一般还是磁质谱的SIMS。好贵~~150多万USD
hxm0515
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没错,上个星期有幸去参观了这台仪器,,非常不错,,不过好像用了十几年的了,,

quote]原文由 nirunxiang(nirunxiang) 发表:
广东,东莞,新科公司有一台。

原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
鉴于广大网友渴望对tof-sims得了解,本人决定分享以下飞行时间二次离子质谱仪简介,本附件主要介绍PHI公司的最新产品,nano-tof得宣传册,但是绝非广告。
国内有tof-sims 仪器的几个院所:

沈阳金属所 新买了ion-tof得tof-sims仪器 TOF-SIMS V,已经开始运行了,负责人好像是:代老师
矿业大学    phi公司的 TRIFT I 友好多年历史了,负责人:梁老师
复旦大学  PHI 公司的, 负责人:李老师
天津飞斯卡尔,具体联系人不清楚
好像听过广东 还有一台PHI公司

我曾经接触过一些关于这面的资料,现在拿出来跟大家分享,希望大家有好的资料要一起分享。
cldai
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icewine2000
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用不同的离子源会有不同的离子峰,现在大部分带的数据是用Ga离子束打的。如果用Bi离子源那这个数据库只能自己做,其他数据仅供参考。
icewine2000
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用不同的离子源会有不同的离子峰,现在大部分带的数据是用Ga离子束打的。如果用Bi离子源那这个数据库只能自己做,其他数据仅供参考。
lalis
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原文由 光哥(xsh1234567) 发表:
TOF的貌似不合适做深度分析吧?据了解,这个东西一般都是用在表面方面的分析。
成像和深度的一般还是磁质谱的SIMS。好贵~~150多万USD


ToF-SIMS用来做2D&3D深度分析是趋势啊。因为可以观察到样品的内部,并且可以可以给出元素分布等信息。但缺陷是对表面要求很高。如果样品本体是粉末的话,深度分析就没有太大意义了。
lalis
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原文由 光哥(xsh1234567) 发表:
TOF的貌似不合适做深度分析吧?据了解,这个东西一般都是用在表面方面的分析。
成像和深度的一般还是磁质谱的SIMS。好贵~~150多万USD


ToF-SIMS用来做2D&3D深度分析是趋势啊。因为可以观察到样品的内部,并且可以可以给出元素分布等信息。但缺陷是对表面要求很高。如果样品本体是粉末的话,深度分析就没有太大意义了。
lalis
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原文由 光哥(xsh1234567) 发表:
TOF的貌似不合适做深度分析吧?据了解,这个东西一般都是用在表面方面的分析。
成像和深度的一般还是磁质谱的SIMS。好贵~~150多万USD


ToF-SIMS用来做2D&3D深度分析是趋势啊。因为可以观察到样品的内部,并且可以可以给出元素分布等信息。但缺陷是对表面要求很高。如果样品本体是粉末的话,深度分析就没有太大意义了。
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