X射线荧光光谱分析的基本原理及应用

wuguibin36

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2006/7/29 16:19:00 21楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

有没有相关资料，wuguibin36@vip.sohu.com

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uroms

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2006/8/1 13:07:00 22楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

多谢了真是好人啊！

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thunder_pk

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2006/8/2 17:07:00 23楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 jiangpeng 发表:
分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；
荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；
分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；

分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化

不对吧，XRF公认的只能做粗略分析，，
另外，不同元素间相互干扰，等下我找些资料给你看，
（重元素的检测限可达ppm量级，）PPM级是很低的级别对于ROHS来说，1ppm=1000ppb，
（样品不必分离），这是什么意思？是指可以测成品吗？我告诉你，
现在不管是使用何种仪器，都只能在均质物质上测试。

同意，XRF只能作为一种定性分析和粗略的定量分析用。测试出来的超出标准的数据需要用ICP等进行精确的测试。一般需要把测试出来的样品分为合格、待确认、不合格三种。待确认和不合格这两种样品都需要用ICP进行精确的测定才能确定。

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