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原文由 attaboy 发表:原文由 louieking 发表:
偶是各超级菜鸟，刚接触直读，请教几个问题？
1，仪器的描迹有啥重要性，主要作用。
2，x荧光仪有全谱的，而直读为啥就没有
3，元素的ATT值调节的情况对校正曲线制作有啥影响
谢谢
1，仪器的描迹，其实叫 手动扫描（Manual scanning）。它的作用是调整光路中的入射狭缝位置，消除环境中温度、振动等因素对仪器光路造成的影响。
2，直读也有全谱的，一般全谱的是用CCD检测器，全谱直读光谱仪多半是台式的小型化的，没有大型立式机使用光电倍增管的稳定，价格也大约相当于大型立式机的一半。
3，元素的ATT值调节对校正曲线的制作有重要的影响。ATT值调节（Attenuator adjustment）其实就是光电倍增管的强度调节。它的合适与否决定了工作曲线的质量好坏。如果强度值调节过高，在测试高含量试样时会引起该元素的数值溢出。如果ATT强度值过低，则工作曲线灵敏度不够高，准确度差一些。
原文由 zzybzy 发表:
其实不是说CCD不好，而是仪器生产厂家在使用CCD作为检测器件的时候，为了降低成本，没有很好的满足CCD的使用条件。CCD器件最大的问题是信噪比的问题，ICP仪器使用它是要加入制冷系统，将CCD器件降温才能获得好的分析结果，而且ICP的使用一般是分析时先建立工作曲线，不采用工厂固化曲线，所以曲线的漂移基本上不太考虑。但是火花光谱仪则不然，由于需要使用十几块的CCD器件，所以不太容易给CCD加入制冷系统，而且由于CCD对温度比较敏感，环境温度每变化3度，则器件的噪声大约变化一倍，所以造成工作曲线非常容易漂移，使用时需要经常校准仪器，比较麻烦，这也是为什么CCD和CID在ICP上应用的比较多，而CCD火花光谱仪却不上档次的原因吧。
使用CCD检测器件的火花光谱仪全部是短焦距、色散比较小的仪器，虽然名义上可以选择使用的谱线比较多，但由于仪器的分辨率达不到，所以很多的谱线不能有效的避除别的谱线对它的干扰，简单说就是相邻的几条谱线互相重叠，真正能够很好使用的谱线其实更少，到目前为止，好像还没有哪个大型钢铁企业在炉前使用这种仪器吧。
CCD的光谱仪最大的优势就是价格便宜。
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