主题:关于x-荧光光谱仪的制样方法!

浏览0 回复59 电梯直达
xuhong
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各位前贤:用x荧光光谱仪进行微量分析时有什么样的制样方法最好(除压片法外),怎么做?谢谢!

制样参见次讲座帖:
【线上讲座14期】X 射线荧光制样方法浅谈
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qutum
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有一种薄膜,用微量注射器把溶液样品点到中间的小坑上,一烘干,溶液自动富极在小坑里,而样品架使该小坑正好在能谱准直器的中心。能分析几个ppb的痕量元素。校正标准都是商品化的。

请问:您经常用压片法制样吧,你听说过用粉末直接分析(不制样)吗?准确度如何?压片机哪里有卖呀?要多大压力的才好。问题太多了,欢迎和我直接交流。
beijingljd
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1、固体粉末样品直接压样(2000KG压力);
2、固体样品加硼酸高温熔融制样(制成玻璃片);
3、液体样品直接测量(用样品杯);
4、固体样品消解(如微波)后按液体方法分析;
5、液体样品用滤纸片浸泡吸收后,再分析测量滤纸上的待测元素含量;
qutum
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感谢各位的跟贴!
还有问题请教啊
1、能量色散X-射线荧光光谱仪能准确测粉末的成分吗,怎么我找的一些资料都是使用波长色散X-射线荧光光谱仪啊,听别人说前者是定性测量的,后者才能定量测量,不知对不对
2、能推荐一本比较好的这方面的书吗,关于制样方法和仪器使用的
3、我想测电站锅炉中受热面上的污垢和腐蚀产物的成分(都是金属氧化物),但待测样品的各种物质的含量变化范围很大,什么方法好啊
xuhong
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关于能散和波散的区别,我以为不可以简单地给出结论。要根据测试精度要求,和样品的性质来决定。

Bruker-AXS (布鲁克)最新的S4系列(1kW--EXPLOER,4kW --pioneer)具有变动理论阿尔法系数基体校正功能。适合于各种含量变化范围大的样品分析。据我所知:其他各厂家的产品均采用固定阿尔法系数校正,而阿尔法系数是随着含量的变化而变化的。为了补偿固定阿尔法系数矫正的不足,有一家的产品进一步采用了贝塔系数(二次)和伽玛系数(三次)校正;但是带来的问题在于:需要测试标样的数量大为增加。但是变动阿尔法系数校正就不存在这样的问题。

另外,布鲁克仪器的陶瓷X光管和发生器在测试中给出的最佳条件就是:满功率运行!在测试一个样品时,对于所含的不同元素,根据最佳的激发管电压(对于轻元素无需很高的激发电压),按照满功率得到最大激发管电流;电压和电流的切换时间小于2秒。大大提高测试的灵敏度。对应于此,其他产品只能整体考虑所测试的各个元素,选择照顾大多数元素测试的一个非最佳条件。

如果您希望采用XRF测试你提及的样品。不妨试试布鲁克的XRF。
wdy99
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xuhong老师,您对Bruker的好像很了解,我在网上看到Bruker的4kW和1kW结构完全一样,价格一样。听说在美国4kW故障率太高全部招回,有这回事吗?
zhengjm
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尽量不要用溶液法,特别是溶液中含易挥发酸时。我们的仪器即使用气体,内部还是出现腐蚀情况,现在只用熔片法。如果是下照式,压片法也不建议使用,粉末掉到光管就麻烦了。
zhengjm
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关于滤纸法,有专用滤纸,外型是圆片的滤纸,滤纸外围有防水圈,溶液不会流出圈外,这样样品分布比较均匀,样品量可以通过控制滴入溶液量调节。国外有相关文献,是做饮用水中杂质的。
dingfujun
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dingfujun
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