由表1可以看出,光谱分析结果比控样的标准校正值偏低,属于系统误差。
2.2 调整相对强度
发射光谱中是以选择分析元素谱线强度与内标元素谱线强度组成的分析线对的相对强度(R)、自吸常数(6)与分析元素浓度(c)之间的关系式为定量分析基础:
lgR= blgc+ lgKE因此可以通过调整分析线对相对强度,改变标准曲线来解决光谱分析结果比控样的标准校正值偏低的系统误差_2]。M8型光电直读光谱中的硫标准曲线依靠RE12(纯铁)与RN19(低合金钢)分别作为低点和高点对其进行标准化校正,调整以上两点的相对强度值,可以使标准曲线随之改变。进入光谱分析软件扩展程序,调用标准化参数窗口,编辑强度。光谱仪出厂设定硫的相对强度为2704(低含量),32639(高含量),以100为单位逐步向上调整,每次调整后对控样进行激发分析,使控样中硫的结果逐渐向标准校正值靠近,直到得到合适的相对强度为3704(低含量),36639(高含量)。相对强度调整后,再次激发表1中4种铸铁光谱控样,测得结果见表2。