主题：【第十七届原创】X荧光分析仪产生基体效应的种类与分析

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发表于：2024/10/17 22:19:51 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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X荧光分析仪基体效应的种类与分析

一、X荧光分析仪分析过程中误差来源分析

在使用X射线荧光检测分析中，基体效应已成为元素定量测定中分析误差的主要来源。基体效应：是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化，对分析射线强度所造成的影响。样品的基本化学组成有分析元素在内的主量元素；样品的物理-化学状态，则应含有固体粉末的粒度、样品表面的光洁度或粗糙度、样品的均匀性以及元素在样品中存在的化学态等。

二、根据样品结构的组成可以将基体效应分为两大类

1、吸收与激发(增强)效应，都随着样品基体化学组成的差异而发生变化，其主要表现为：

A、原级入射线进人样品时所受的吸收效应；

B、荧光谱线出射时受样品的吸收或分析元素受样品中其它元素的激发效应；

C、第三级的激发效应。

2、其它物理化学效应，会给分析线强度的测量带来重大误差，主要表现为：

A、样品的均匀性、粒度和表面效应；

B、化学态的变化对分析线强度的影响。

三、产生各种效应的基本特点介绍

1、吸收与激发效应

在使用X荧光分析仪分析测试样品时，检测过程中的所引起的吸收和激发效应，是由于原级入射线进入样品时所受到的吸收效应和不同性质特点的样品，当分析元素含量相同时，吸收和激发效应表现在对同一分析线的强度影响上，首先是由于样品对原级入射线和分析线的联合质量衰减系数的差异造成的。

2、粒度效应

经常测试的均匀样品，对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。经测试数据验证这种样品在给定的压紧份数下，粒度越小，荧光谱线的强度越高。对于给定的粒度来说，压力越大，即压紧份数越小，荧光谱线强度也越高。而不均匀样品则不同，在不均匀样品中，存在着各种不同的粒度或化学组成的颗粒，影响荧光谱线强度的因素会较复杂。

3、表面效应

样品表面状态和荧光谱线强度的关系至关重要。当样品是由磨料、锯料或锋料制成大小一定的块状物体时，其表面必须经过适当的磨平或抛光。荧光谱线强度不仅与样品的表面构造和纹沟的性质有关，而且也受样品位置、纹沟和进出X射线方向影响。对于后者，可以通过测量过程中同时转动样品减少或消除，如不能转动则应使纹沟的方向与入射和出射线所成的平面平行。

四、总结

当我们在选择使用X荧光分析仪，对测试样品元素含量进行测试分析测试时，应该选择将样品进行处理，特别是在生产过程中，已经造成表面受到创伤的样品，我们应该对其进行再处理操作，然后再进行分析检测，这样即可以降低分析过程中产生的不同效应影响，又可以有效的提升测试结果的准确度。