主题:【求助】探头被污染!!???

浏览0 回复15 电梯直达
wyj8578
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这是在最小的倍数下做的测试图

首先我不明白这个边框怎么就出来了,明明以前是没有的,但有经验的老师说是没有问题的,但还请各位帮忙给个原因,让我死得瞑目些
但更重要的是边框上的那些絮状的东西,是不是探头被污染了。
我们是有做粉末的样品,即时喷金仪坏了以后,。具体是用导电胶粘一层薄薄的粉末样品,再用洗耳球狂吹,某次来参观考察的专家说这样处理过后放进样品室抽真空,粉末样品就不会飞起污染样品室,但我也具体不知这是对还是错
不管是不是探头污染,请问怎么去掉这些絮状物呢?
请各位帮帮忙

补充一下,SEM型号:FEI  QUANTA 400
呵呵
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huangtao0307
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原文由 wyj8578(wyj8578) 发表:
这是在最小的倍数下做的测试图

首先我不明白这个边框怎么就出来了,明明以前是没有的,但有经验的老师说是没有问题的,但还请各位帮忙给个原因,让我死得瞑目些
但更重要的是边框上的那些絮状的东西,是不是探头被污染了。
我们是有做粉末的样品,即时喷金仪坏了以后,。具体是用导电胶粘一层薄薄的粉末样品,再用洗耳球狂吹,某次来参观考察的专家说这样处理过后放进样品室抽真空,粉末样品就不会飞起污染样品室,但我也具体不知这是对还是错
不管是不是探头污染,请问怎么去掉这些絮状物呢?
请各位帮帮忙

补充一下,SEM型号:FEI  QUANTA 400
呵呵


1.边框問題﹕你的設備有沒有背散探頭啊﹐我們之前也碰到過。后來分析是由于背散探頭放歪造成的.
2.做粉末品對電鏡有影響是肯定的.那位專案說的樣品前處理方法也是可取的.不過在放到電鏡里
  前最好先利用其他抽真空設備預抽一下﹐這樣可以把一些可能會因為抽真空跑掉的粉末先
  處理掉.
3.去掉这些絮状物質似乎沒有其他更好的辦法了﹐只有在設備大保養時更換光攔.清洗鏡筒才能
    真正解決這個問題.
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2010/12/22 16:50:43 Last edit by huangtao0307
wyj8578
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实在是很谢谢LS的回答

1.有背散射的探头,那我再调整一下探头是不是可以消除边框,有不少客户反应低倍的时候实在是不好看
2.除了一个坏了的喷金仪就没有其他的抽真空的设备了,呵呵
3.等到设备大保养都不知何年何月了,只好先凑合着用了

O(∩_∩)O谢谢
小M
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低倍的时候,确实是可以看到极靴的。
加了背散射探头就更加能看到那个框了。
没看到有你说的絮状物啊?
fengyonghe
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LFD是什么探测器?成像原理是什么?网上没搜索到。二次电子像能否看到边框?
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2010/12/22 20:25:35 Last edit by fengyonghe
wyj8578
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原文由 Mitchell(mitchell_dyzy) 发表:
低倍的时候,确实是可以看到极靴的。
加了背散射探头就更加能看到那个框了。
没看到有你说的絮状物啊?


在边框的左右两边上
wyj8578
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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
LFD是什么探测器?成像原理是什么?网上没搜索到。二次电子像能否看到边框?


这是FEI 环境扫描电镜低真空模式的探头,这是二次电子像吧!!?
schokolade38
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BSED装了吗?用LFD时最好把BSED拿掉, 图像问题不大, 边缘的的问题可以通过更换200UM 光阑和清理POLEPIECE解决
tigerlt
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在很低的放大倍数下不可避免的看到光阑孔的边。这的确是正常现象。如果你不想看到,可以增加工作距离。高真空时还可以把insert取出。都可以增大视野。絮状物不是探头被污染了而是沾在光阑上了。如果像散可以调好都没必要管它。如果无法调像散可以考虑换光阑。
tigerlt
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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
LFD是什么探测器?成像原理是什么?网上没搜索到。二次电子像能否看到边框?


LFD large field detector
低真空二次电子探头。原理类似于环扫探头,都是样品表面二次电子电离气体分子,在外加电场作用下引发雪崩效应,电离的气体正离子中和表面荷电,二次电子成像。这本身就是二次电子像。
ningwq
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可以增加工作距离。絮状物如果像散可以调好都没必要管它。如果无法调像散可以考虑换光阑。
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