后续将有专属客服与您沟通!
关注微信公众号查看留言进度 接收留言处理通知
0
ID:xrf-info
行业:其他
积分:0升级还需100积分
声望:0升级还需100声望
注册时间:0000-00-00
最后登录时间:0000-00-00
原文由 sangni(sangni) 发表:不是呀,我们主要是要把SiO2能做的很精确,可熔片法的误差都是比较大的了,想做的更精确些,有没有其他方法?
ID:albert800922
原文由 XRF_INFO(xrf-info) 发表:原文由 sangni(sangni) 发表:不是呀,我们主要是要把SiO2能做的很精确,可熔片法的误差都是比较大的了,想做的更精确些,有没有其他方法?你的Si含量50-60%,你想做到极差多大?当然也可以把Si的测量时间再延长点。[/quot我后来觉的Si误差大,主要原因可能还是前期熔片,测定影响稍微少点。不知道大家怎么想的。
ID:bennaiyou
ID:denx5201314
原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:硅,有的时候偏差大点。
ID:xp1980
原文由 xp1980(xp1980) 发表:前期处理的时候,不知道你的熔样温度多少,如果低的话,可能导致样品熔样不完全,熔片不均匀。同时时间长点,