主题:【分享】质谱几种工作模式简述

浏览0 回复21 电梯直达
蓝精灵
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今天在网上看到一篇这样的文章,感觉说的比较浅显易懂,对比做的也很好,分享上来给大家看看:

      SIM
:单离子检测扫描(single ion monitoring)


SRM :选择反应检测扫描(selective reaction monitoring)

MRM :多反应检测扫描(multi reaction monitoring)



质谱都有几种工作模式:

(1)Full Scan:全扫描,指质谱采集时,扫描一段范围,选择这个工作模式后,你自己来设定一个范围,比如:150~500 amu。

对于未知物,一定会做这种模式,因为只有Full Scan了,才能知道这个化合物的分子量。

对于二级质谱MS/MS或多级质谱MSn时,要想获得所有的碎片离子,也得做全扫描。

(2)SIM:Single Ion Monitor,指单离子监测,针对一级质谱而言,即只扫一个离子。

对于已知的化合物,为了提高某个离子的灵敏度,并排除其它离子的干扰,就可以只扫描一个离子。这时候,还可以调整一下分辨率来略微调节采样窗口的宽度。比如,要对500 amu的离子做SIM,较高高分辨状态下,可以设定取样宽度为1.0,这时质谱只扫499.5~500.5 amu。还有些高分辨率的仪器,可以设定取样宽度更小,比如0.2 amu,这时质谱只扫499.9~500.1 amu。但对于较纯的、杂质干扰较少的体系,不妨设定较低的分辨率,比如取样宽度设为2 amu,这时质谱扫描499~501 amu,如果没有干扰的情况下,取样宽度宽一些,待测化合物的灵敏度就高一些,因为噪音很低;但是有很强干扰情况下,设定较高分辨,反而提高灵敏度信噪比,因为噪音降下去了。

(3)SRM:Selective Reaction Monitor,指选择反应监测,针对二级质谱或多级质谱的某两级之间,即母离子选一个离子,碰撞后,从形成的子离子中也只选一个离子。因为两次都只选单离子,所以噪音和干扰被排除得更多,灵敏度信噪比会更高,尤其对于复杂的、基质背景高的样品。

我们不妨把它看成二级质谱的SIM,上述关于SIM的特点也适用,即分辨率高些,抗背景排干扰的能力就更强。

(4)MRM:Multi Reaction Monitor,指多反应监测,其实就是多个化合物同时测定时,多个SRM一起做。

那么特点就跟SRM是一样的。有的厂家并不区分SRM和MRM,因为只要一次实验同是做几个SRM就是MRM方式了。

定性,一定会用Full Scan,因为想看到更多的离子。

定量,倾向于用SIM或SRM/MRM,因为想提高已知信号的强度。背景基质越复杂,SRM/MRM就越好,尤其是分辨率设得高的SRM/MRM就越好。



子离子扫描 ( Product Ion Scan)

母离子扫描 (Precursor Ion Scan)

中性丢失扫描 (Neutral Loss Scan)
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原文由 去年冬天(7336167) 发表:
一般最常用的是哪种模式呀?


我们做样都是SIM/SCAN同时做,SCAN用于定性,避免干扰,SIM用于定量。
蓝精灵
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原文由 去年冬天(7336167) 发表:
一般最常用的是哪种模式呀?

一般定量最常用MRM。大致程序如下:
full scan找目标准分子离子峰(母离子)——进行二级全扫描,初步优化条件,筛选合适的二级碎片离子(子离子)——优化SRM(单对)或MRM(多对)条件,用所选择的离子对进行定量分析。
kkeats
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子离子扫描 ( Product Ion Scan)

母离子扫描 (Precursor Ion Scan)

中性丢失扫描 (Neutral Loss Scan)
还有AB的增强型离子扫描什么的,楼主也顺便解释一下啊
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原文由 kkeats(kkeats) 发表:
子离子扫描 ( Product Ion Scan)

母离子扫描 (Precursor Ion Scan)

中性丢失扫描 (Neutral Loss Scan)
还有AB的增强型离子扫描什么的,楼主也顺便解释一下啊

子离子扫描 ( Product Ion Scan):又叫产物离子扫描,即对选定母离子的二级碎片的扫描,从定性角度说可以得出相关碎片信息,从而推断结构信息,从定量角度说,可以通过优化源参数选择合适的子离子,为MRM前期工作
母离子扫描:实际为依据子离子找母离子,已知某碎片离子,可以反过来扫描能产生该碎片的母离子,适于复杂样品分析,尤其是在做代谢物筛查时较有利
中型丢失扫描:即扫描能丢失某一中心碎片的所有离子,比如扫描可能丢失一个糖苷的所有可能离子
增强型离子扫描,貌似是AB的Q-TOF5500可以做,他们的理念貌似是推出MRM3,但没有用过,理解不深。
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