主题:【求助】请教用原子力测量样品厚度的问题

浏览0 回复24 电梯直达
原子力小辣椒
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我想用本原的CSPM5500测石墨片样品的厚度。
我一般是在扫描完成后用图形处理软件中用“生成剖面线”的方法,
但是出来的曲线都找不到一点稍微平整的地方,连基底(我用的Si片)都是很锯齿状的线,
我实在不知道怎么找到起点和终点。

想请教一下啊,我用“生成剖面线”的方法测量样品厚度可行不?
为什么找不到平整的线呢?

谢谢大家的热心解答:)
该帖子作者被版主 unht4积分, 2经验,加分理由:可否传个图片
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unht
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“生成剖面线”的方法测量样品厚度,可行.
都是很锯齿状的线,口否传一张图片看看
原子力小辣椒
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unht
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你这个图片没扫的好,可以放慢速度重扫下。
你要侧他的厚度,你要处理下,选个区把它拉平,然后在“生成剖面线”
试试看...
原子力小辣椒
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嗯,冲扫试试看。

楼上说的“选个区把它拉平”是什么意思啊?

另外,我觉得AFM制样好难啊~

有什么好的经验吗?

谢谢~
unht
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“选个区把它拉平”
就是"flatten"一下
不知道你说的指哪方面的样品,
基底Si片我扫的也是很锯齿状的线,在一个纳米高度左右,我觉得是硅片本身的粗糙度,
原子力小辣椒
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我的图形处理软件中好像没有找到“flatten”一项,
我的样品是石墨。
unht
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原子力小辣椒
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原子力小辣椒
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我有个问题啊:
AFM的零点高度是指什么呢?

我看图上基底都有一定的高度,不知道是以什么为基点参照的?
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