主题:【已应助】求1篇mser

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大陆
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先谢谢了。
1、

【作者】:
Chu Ryang Wie
【题名】:High resolution x-ray diffraction characterization of semiconductor structures
【期刊、年、卷、期、起止页码】:Materials Science and Engineering: R: Reports Volume 13, Issue 1, 15 September 1994,Pages 1-56
【全文链接】:
http://dx.doi.org/10.1016/0927-796X(94)90008-6
推荐答案:yilai1002回复于2011/05/26
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yilai1002
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