主题:【原创】玻璃片上喷的金颗粒

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AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵;现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中,成为纳米科学研究的基本工具。
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原文由 小M(mitchell_dyzy) 发表:
可以测出厚度吗?
可以,但是是相对的
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第一张图的Z轴满量程是20nm,好像有一处差不多达到20nm咯
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