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主题：【求助】AFM接触模式Tip的选择

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littlebean
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2012/7/9 8:42:23 21楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 wangshuoleon(wangshuoleon) 发表:
针尖确实有粗细之分，不过对于一般的测试，30nm到50nm就可以满足测试要求了


我买的新针是2nm的
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wangshuoleon
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2012/7/20 12:01:46 22楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 littlebean(littlebean) 发表:
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针尖确实有粗细之分，不过对于一般的测试，30nm到50nm就可以满足测试要求了


我买的新针是2nm的


什么材料的
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littlebean
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2012/7/20 17:47:56 23楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 wangshuoleon(wangshuoleon) 发表:
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针尖确实有粗细之分，不过对于一般的测试，30nm到50nm就可以满足测试要求了


我买的新针是2nm的


什么材料的


硅做的~
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hrxspm
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2012/9/26 11:06:29 24楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 littlebean(littlebean) 发表:
原文由 unht(unht) 发表:
粗！奇怪探针还有粗细一说...


探针必须有粗细啊，细的，形成的图片精细很多，而且相对的测试误差会小一点。当然更贵一点。


因为原子力显微镜的成像原理主要就是探针与样品之间的相互作用力，而针尖的曲率半径是直接影响他们之间的相互作用力，会导致出现一些不真实的图像
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hrxspm
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2012/9/26 11:09:13 25楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 unht(unht) 发表:
粗！奇怪探针还有粗细一说...


理论上探针越细，得到的图像真实性越大，卷积效应越小
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