我想故宫使用的应该是EDAX的Orbis Micro-XRF Analyzer Series,这是独立的微区元素分析仪器,和电子显微镜无关,文物的损坏并非由于EDAX的能谱造成的。在文物损坏的原因上面,人员操作失误是主要问题,但EDAX并非一点问题没有:
1. 这是一种无损检测的元素分析仪器,在EDAX公司的产品介绍中也多次提到用于文物方面的研究。既然用于文物研究,由于样品珍贵,移动样品台时再一次确认是必须的。就像我们一直在讨论的动车7.23事故一样,我们不能仅仅把事故责任推卸到是雷击造成的一样,大多数责任事故都不是由单一方面的原因造成的。逃避责任,回避问题只会为事故的再次发生埋下地雷。不管是仪器,工业设备还是交通工具,如果涉及到人身安全和重大财产安全,厂家在生产上多一些考虑是应该的。就像原文中提到:
“
记者:为什么这次会出现操作失误? 苗建民:这个有主客观原因。客观原因是,仪器上也还有可根据故宫的特殊需求改进的地方。例如,这台仪器在输入一个数值后,没有再次确认的功能。就像手机要删除一条信息,会提示用户是否真的要删除,但这台仪器没有这个功能。”
2. 另外,不光是在输入移动样品距离上多给一次确认,如果EDAX公司在设计这台仪器时能加入防撞功能(很多仪器上都有,包括部分型号电子显微镜),也不会发生这样的事故。同样对于文物研究方面的用户也会降低他们使用这个设备的压力,从这个方面来讲,作为仪器制造厂家,也是有一定的责任的。
原文由 小M(mitchell_dyzy) 发表:
仔细看了一下连接的新闻,突然发现前次回复简直是大错特错!我不知道是楼主想引人注意呢还是故意诋毁,起这么个标题。很明显,这次事故的主要原因在于操作人员的失误!
从功能上来说,大家都知道只有删除这种危险操作才会提示确定,像移动样品台这样再常规不过的操作,是不会有确定的提示的,要不然每走一步就警告,那这警告还有意义吗?移动Z轴是SEM最容易出问题的地方之一,因为样品正上方便是探测器,价格昂贵,但这次的重点在于样品比那探测器更昂贵,估计那被撞的探测器也报废了。亏她还是有6、7年工作经验的研究员,这种低级错误,实在不应该…
再从这位发言人的表述来说,EDAX真是背黑锅了,人家只是生产能谱的,只是SEM的附件。虽然他们意在用能谱分析,不用SEM的看微观形貌功能,但是瓷器损坏时能谱还没开始工作呢,相当于盛了一碗饭,还没开始吃,饭却被拿碗的人洒地上了,能怪筷子吗?
真是可笑!