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主题：【求助】ED-XRF测试CdS膜层均匀性

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yulafeng
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发表于：2011/08/15 15:50:20 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
求助：
        最近希望利用ED-XRF测试CdS膜层的均匀性。
1，测试时会有Ar K线系与Cd L线系重叠；
2，但样品室不能抽真空，也没法在探测器附近吹N2气，排除Ar的影响；
3，如果能通过Auto focus让探测器与每个测试点的距离保持一致；
      是否可以认为每个点的测试结果中Ar的影响是一样的，可以相对的测试出Cd的信号强弱变化，从而得出不同位置的CdS的膜层厚度？
 
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2011/8/15 16:10:30 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
先考虑Rh对Cd的干扰吧。相对于Ar来说，Rh对Cd的干扰更大一些。
建议用Cd的K线，使用黄铜滤光片，或者换一个不是Rh靶的光管，直接测CdKa线即可。
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yulafeng
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2011/8/15 16:20:03 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
非常感谢 我的是Cr靶，不存在Rh对Cd的干扰
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yulafeng
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2011/8/15 16:24:19 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
补充说明一下，Cd 的K线非常弱，基本看不到信号
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lj919
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2011/8/16 11:19:24 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
其实应该再同意稳定的环境中Ar的影响是接近于一定的，这是我们就可以把Ar和Cd看做一个整体做分析就可以了。
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金水楼台先得月
albert800922
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2011/8/17 22:33:31 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 lj919(lj919) 发表:
其实应该再同意稳定的环境中Ar的影响是接近于一定的，这是我们就可以把Ar和Cd看做一个整体做分析就可以了。

整体分析，结果如何区分？
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